北京中科昊芯科技有限公司吴军宁获国家专利权
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龙图腾网获悉北京中科昊芯科技有限公司申请的专利一种自动测试芯片的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119805168B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510035974.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种自动测试芯片的方法及装置是由吴军宁;张劲松;张俊妍设计研发完成，并于2025-01-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种自动测试芯片的方法及装置在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种自动测试芯片的方法及装置，所述方法包括：自动生成不同引脚的测试例程，并将所述测试例程编译为可执行ELF文件，其中，所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据；将所述可执行ELF文件放入指定位置；接收输入的芯片型号和引脚信息，得到测试参数，其中，所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接；根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。采用本申请实施例的技术方案显著降低了技术门槛，减少了人为操作错误的风险，提高了测试效率，大幅降低了人力成本，为芯片生产和筛选过程带来显著的加速效果。
本发明授权一种自动测试芯片的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种自动测试芯片的方法，其特征在于，所述方法包括： 通过编译参数配置界面接收不同硬件所需的引脚配置参数，以使各可执行ELF文件适配不同硬件需求； 自动生成不同引脚的测试例程，并将所述测试例程编译为可执行ELF文件，其中，所述可执行ELF文件包括所有待测试代码和数据； 将所述可执行ELF文件放入指定位置，包括根据设定的引脚参数，自动将编译生成的ELF文件分别存放于以引脚数量命名的文件夹中； 接收输入的芯片型号和引脚信息，得到测试参数，其中，所述测试参数用于建立联合测试工作组JTAG连接； 根据所述测试参数自动通过JTAG接口连接到芯片并执行测试。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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