核工业西南物理研究院龙婷获国家专利权
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龙图腾网获悉核工业西南物理研究院申请的专利用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119880897B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510074428.9，技术领域涉及：G01N21/84；该发明授权用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统及方法是由龙婷;聂林;石中兵;柯锐;田文静;周永康;龚少博;王哲;张朋飞设计研发完成，并于2025-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统及方法，该系统包括正反向双光路多普勒相干成像系统和外部移动光源。正反向双光路多普勒相干成像系统分别从两个相反方向对磁约束等离子体装置内部同一发光区域的波长为目标多重态谱线的光进行干涉条纹成像。移动外部光源可实现装置内部粒子发光测量模式与外部激光测量模式的切换。结合装置内部发光区域目标多重态谱线的干涉条纹图像和外部激光的干涉条纹图像，可计算目标多重态谱线的实际中心波长，获得装置内部发光粒子无定向运动时干涉条纹的相位分布以实现标定。本发明可避免在干涉条纹标定时由于数据库计算中心波长与实际中心波长不一致而导致粒子速度测量不准确的问题。
本发明授权用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于多普勒相干成像光谱诊断的干涉条纹标定系统，其特征在于，包括若干组正反向双光路多普勒相干成像系统和外部移动光源；每组正反向双光路多普勒相干成像系统包括两个多普勒相干成像系统，用于分别从两个相反方向对磁约束等离子体装置内部同一发光区域的波长为目标多重态谱线的光进行干涉条纹成像；所述外部移动光源可移动至每个多普勒相干成像系统中，以进行外部移动光源的干涉条纹成像。
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