合肥埃科光电科技股份有限公司夏云鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉合肥埃科光电科技股份有限公司申请的专利杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120353017B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510864224.5，技术领域涉及：G02B21/24；该发明授权杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统是由夏云鹏;唐俊峰;杨晨飞;曹桂平;董宁设计研发完成，并于2025-06-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统，涉及自动对焦领域。该方法应用于显微自动对焦装置，包括调节显微物镜与穿过显微物镜后的光线所对应的反射点之间的距离，或光线的反射角度，使得调整后的距离或反射角度超出显微物镜的可对焦范围；或在显微物镜外侧增加消光组件，以消除穿过显微物镜的光线；计算显微物镜在轴向不同高度位置处，由杂散光在第一传感器表面形成的理论光斑区域；提取显微物镜在轴向不同高度位置处的实际光斑图像中理论光斑区域所对应的灰度值，用于校正待测物的光斑图像，以降低杂散光对离焦量计算结果的影响。由此，减小显微物镜表面反射的杂散光对离焦量计算的影响，提高了离焦量计算的准确性。
本发明授权杂散光灰度值获取方法、自动对焦处理方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种杂散光灰度值获取方法，应用于基于激光光斑的显微自动对焦装置，其特征在于，所述方法包括： 调节显微物镜与穿过显微物镜后的光线所对应的反射点之间的距离，或所述光线在反射点处的反射角度，使得调整后的距离或反射角度超出所述显微物镜的可对焦范围；或在显微物镜外侧增加消光组件，以消除穿过显微物镜的光线；其中，所述光线属于从显微自动对焦装置中激光单元所提供光束中的任一条； 计算显微物镜在轴向不同高度位置处，由杂散光在第一传感器表面形成的理论光斑区域；其中，所述杂散光由入射至显微物镜上表面的半椭圆光斑，经显微物镜表面反射形成；入射至物镜上表面的半椭圆光斑的长轴与半短轴的交点，在显微物镜的光轴上； 提取显微物镜在轴向不同高度位置处的实际光斑图像中理论光斑区域各像素点的灰度值，用于校正待测物的光斑图像，以降低杂散光对离焦量计算结果的影响。
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