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龙图腾网获悉中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司申请的专利测试电路、测试系统和测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116027167B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111246405.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测试电路、测试系统和测试方法是由陈晶晶;曾雪松;李若园设计研发完成，并于2021-10-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试电路、测试系统和测试方法在说明书摘要公布了：一种测试电路、测试系统和测试方法，所述测试电路包括：测试频率产生单元，适于在相应的控制信号的控制下，生成具有相应测试频率的测试时钟信号；分频处理单元，适于将待测动态D触发器和静态D触发器在所述测试时钟信号的控制下的数据输出频率进行分频处理，得到对应的测试数据输出频率和参考数据输出频率；测试机台，适于将所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率进行比较；当确定所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率一致时，生成相应的控制信号并发送至所述测试频率产生单元，直至所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率不一致时，获取对应的测试结果。上述的方案，可以实现动态D触发器的在线自动化测试，提高测试效率。

本发明授权测试电路、测试系统和测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测试电路，其特征在于，包括测试频率产生单元、分频处理单元和测试机台； 所述测试频率产生单元，控制端与所述测试机台耦接，输出端与待测动态D触发器和静态D触发器耦接，适于在相应的控制信号的控制下，生成具有相应测试频率的测试时钟信号并传输至待测动态D触发器和静态D触发器； 所述分频处理单元，输入端分别与所述待测动态D触发器和所述静态D触发器耦接，适于将所述待测动态D触发器和所述静态D触发器在所述测试时钟信号的控制下的数据输出频率分别进行分频处理，得到对应的测试数据输出频率和参考数据输出频率； 所述测试机台，输入端与所述分频处理单元耦接，适于将所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率进行比较；当确定所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率一致时，生成相应的控制信号并发送至所述测试频率产生单元，以使得所述测试频率产生单元按照预设的降频步长对测试时钟信号的测试频率进行调整，直至所述测试数据输出频率和所述参考数据输出频率不一致时，获取对应的测试结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司，其通讯地址为：201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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