日本发条株式会社中野健一郎获国家专利权
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龙图腾网获悉日本发条株式会社申请的专利一种磁盘装置用悬架的检测方法、制造方法和检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116189719B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211345063.1，技术领域涉及：G11B5/48；该发明授权一种磁盘装置用悬架的检测方法、制造方法和检测系统是由中野健一郎设计研发完成，并于2022-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种磁盘装置用悬架的检测方法、制造方法和检测系统在说明书摘要公布了：根据一实施例的检测方法，所述检测方法用于检测磁盘装置用悬架，所述磁盘装置用悬架包括，具有沿第1方向排列的第1侧面和第2侧面的电子元件和，沿所述第1侧面设置的第1粘合剂和，沿所述第2侧面设置的第2粘合剂，所述检测方法包括检测所述第1粘合剂的第1位置的第1高度和，检测所述第2粘合剂的第2位置的第2高度以及，基于所述第1高度和所述第2高度，判定所述第1粘合剂和所述第2粘合剂在所述第1方向上的涂抹位置以及所述第1粘合剂和所述第2粘合剂的涂抹量中的至少一方是否合适的。
本发明授权一种磁盘装置用悬架的检测方法、制造方法和检测系统在权利要求书中公布了：1.一种检测方法，所述检测方法是一种用于检测磁盘装置用悬架的检测方法，所述磁盘装置用悬架包括，具有沿第1方向排列的第1侧面和第2侧面的电子元件和，沿所述第1侧面配置的第1粘合剂和，沿所述第2侧面配置的第2粘合剂；所述检测方法包括 测量所述第1粘合剂的第1位置的第1高度， 测量所述第2粘合剂的第2位置的第2高度， 根据所述第1高度和所述第2高度判定所述第1粘合剂和所述第2粘合剂在所述第1方向上的涂抹位置是否合适， 其中所述第1粘合剂具有所述第1方向上的第1中心和，在所述第1方向上的超过所述第1中心远离所述第2粘合剂的第1外缘， 所述第2粘合剂具有所述第1方向上的第2中心和，在所述第1方向上的超过所述第2中心远离所述第1粘合剂的第2外缘， 当所述第1粘合剂在所述第1方向上的涂抹位置是正确的时，所述第1位置在所述第1方向上位于所述第1中心和所述第1外缘之间， 当所述第2粘合剂在所述第1方向上的涂抹位置是正确的时，所述第2位置在所述第1方向上位于所述第2中心和所述第2外缘之间。
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