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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种卡式折轴望远物镜的光轴一致性调试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116430602B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310441678.2，技术领域涉及：G02B27/62；该发明授权一种卡式折轴望远物镜的光轴一致性调试方法是由李小燕;刘勇;侯晓华;史元元;王晓蕊设计研发完成，并于2023-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种卡式折轴望远物镜的光轴一致性调试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种卡式折轴望远物镜的光轴一致性调试方法，以解决现有的调试方法效率低，且精度和稳定性差的问题。本发明提供的调试方法是在非球面的次镜中心设置了第一通孔，并将其背面设置为与其中心轴垂直的平面结构，形成一个平面反射基准，在之后的调试步骤中以此间接作为光轴基准，在自准直干涉检测光路中就可同时完成系统波相差检测及所有元器件光轴一致性的调试工作，节省了安装平面反射镜组件进行标定的步骤，提高了光轴一致性调试效率及其调节的精度和稳定性。

本发明授权一种卡式折轴望远物镜的光轴一致性调试方法在权利要求书中公布了：1.一种卡式折轴望远物镜的光轴一致性调试方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、将待调试望远物镜1中的次镜11背面加工设置为与其中心轴垂直的平面，并在该平面上镀反射膜，同时沿次镜11中心轴方向设置第一通孔；所述次镜11的背面为远离待调试望远物镜1中主镜12的一面； 步骤2、对应设置干涉仪2和经纬仪3；干涉仪2安装标准平面镜头，将经纬仪3调焦至无穷远，调节经纬仪3的姿态，使经纬仪3发出的平行光与干涉仪2发出的平行光平行；再将干涉仪2镜头更换为标准球面镜头，将经纬仪3调焦至发出汇聚光，调节经纬仪3的姿态，使经纬仪3发出的汇聚光与干涉仪2发出的汇聚光主光轴重合； 步骤3、将干涉仪2的镜头更换为标准平面镜头，在经纬仪3与干涉仪2之间设置中心带有第二通孔的平面反射镜4，调节平面反射镜4的姿态，使其与干涉仪2达到零条纹自准，并使所述第二通孔位于干涉仪2的光路中心； 步骤4、在平面反射镜4与干涉仪2之间摆放待调试望远物镜1，使其主镜12与干涉仪2相对，次镜11与平面反射镜4相对；调节待调试望远物镜1的姿态，使次镜11的背面与经纬仪3发出的平行光准直； 步骤5、将干涉仪2的镜头更换为标准球面镜头，沿与干涉仪2光轴垂直的方向平移调节待调试望远物镜1，使得干涉仪2中出现干涉条纹； 步骤6、测量待调试望远物镜1的系统波相差；若系统波相差中慧差分量小于或等于第一预设值，则进行步骤7；若系统波相差中慧差分量大于第一预设值，则沿与干涉仪2光轴垂直的方向平移微调次镜11，使其小于或等于第一预设值，再进行步骤7； 步骤7、在待调试望远物镜1的目镜14安装处安装基准工装5；在待调试望远物镜1中安装折轴镜13；所述基准工装5包括光学分划板和设置在光学分划板外围的光学分划板镜框； 步骤8、将经纬仪3调焦至无穷远，使其发出的平行光穿过次镜11中心的第一通孔后到达折轴镜13，再经折轴镜13反射形成反射光线01，所述反射光线01被光学分划板自准回经纬仪3，调整折轴镜13的姿态，使自准回经纬仪3的自准像与经纬仪3的中心重合； 步骤9、将经纬仪3调焦至有限距离，沿所述反射光线01的光轴方向平移调节基准工装5，使得光学分划板的中心与经纬仪3中心重合； 步骤10、多次重复步骤8至步骤9，直至经纬仪3中观察到的自准像和穿心像均与经纬仪3的中心重合； 步骤11、将干涉仪2的镜头更换为标准平面镜头，并将干涉仪2与待调试望远物镜1的目镜14安装处相对，调整干涉仪2姿态，使其与基准工装5达到零条纹自准； 步骤12、去掉基准工装5，安装目镜14，沿所述反射光线01的光轴方向平移调节目镜14，使待调试望远物镜1的系统波相差中的离焦量小于等于第二预设值，沿与所述反射光线01垂直的方向平移调节目镜14，使待调试望远物镜1的系统波相差中的慧差分量小于等于第三预设值，完成待调试望远物镜1的光轴一致性调试。

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