中国科学院西安光学精密机械研究所张智南获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118960955B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411014370.0，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法是由张智南;杨莹;李西杰;刘杰;张耿;王爽;李思远;胡炳樑设计研发完成，并于2024-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光谱成像方法，具体涉及基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法，为解决现有多狭缝技术中存在局部弱光区无法获得足够的增益效果，信噪比难以提高的不足之处。本发明基于复合多狭缝的光谱仪包括探测器、分光系统和设置在分光系统入射端的狭缝组件，狭缝组件包括并列设置在同一平面的N条完整色散狭缝以及M条局部色散狭缝，其中轴线位于同一平面；N条完整色散狭缝相邻设置，M条局部色散狭缝相邻设置；相邻完整色散狭缝的间距为n+1个像元尺寸；相邻局部色散狭缝间距为m+1个像元尺寸；同时还提供基于上述光谱仪的成像方法，将N+M个光谱数据线性相加，得到待测目标的光谱仪成像数据，从而增强弱光光谱区间的信噪比。
本发明授权基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于复合多狭缝的光谱仪，其特征在于： 包括探测器、分光系统和设置在分光系统入射端的狭缝组件，所述狭缝组件包括并列设置在同一平面的N条完整色散狭缝以及M条局部色散狭缝；其中，N、M满足以下关系： N×n+1+M×m+1-1≤A， 其中，A为探测器光谱方向的像元数量，n为光谱仪全光谱区间对应的总谱段数量，m为光谱仪弱光光谱区间对应的谱段数量； N条所述完整色散狭缝相邻设置，M条局部色散狭缝相邻设置； 相邻所述完整色散狭缝的间距为n+1个像元尺寸； 相邻所述局部色散狭缝间距为m+1个像元尺寸。
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