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龙图腾网获悉深圳米飞泰克科技股份有限公司申请的专利芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119044726B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411086177.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质是由陈增亮;李安平;李晓白;王伟;刘乐;张传益;梅利文设计研发完成，并于2024-08-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请适用于芯片测试技术领域，提供了芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质，方法包括：获取测试通过的多个第一芯片中每个第一芯片的测试值，多个第一芯片对应相同的测试限值；根据多个第一芯片的测试值以及测试限值，从多个第一芯片中确定至少一个潜在缺陷芯片；确定每个潜在缺陷芯片的余量值，余量值指示任一潜在缺陷芯片与芯片测试图中相邻的至少一个芯片中每个芯片的测试值之间的差异程度；芯片测试图包括多个芯片的测试值，多个芯片包括至少一个潜在缺陷芯片；根据余量值与预设阈值之间的大小关系，重新确定任一潜在缺陷芯片的测试结果。以此降低芯片失效的概率，提高芯片测试的可靠性以及准确性。

本发明授权芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片检测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取测试通过的多个第一芯片中每个所述第一芯片的测试值，多个所述第一芯片对应相同的测试限值，所述测试值为所述第一芯片经过测试项目后对应的数值，所述测试项目包括电阻测试、开短路测试或驱动输出测试中的至少一者； 统计第一芯片的测试值与所述测试限值之间的偏离程度，将偏离程度大于或等于指定数值的测试值对应的第一芯片作为潜在缺陷芯片，得到至少一个所述潜在缺陷芯片； 获取每个所述潜在缺陷芯片所在的芯片测试图，所述芯片测试图包括多个芯片的测试值，所述多个芯片包括至少一个潜在缺陷芯片； 针对每个所述潜在缺陷芯片，在所述潜在缺陷芯片所在的芯片测试图中查找位于所述潜在缺陷芯片四周的至少一个相邻芯片； 确定所述潜在缺陷芯片的相邻芯片的测试值之间的均值； 将所述潜在缺陷芯片的测试值与该确定的均值之间的差值作为所述潜在缺陷芯片的余量值，所述余量值指示所述潜在缺陷芯片与自身的每个相邻芯片的测试值之间的差异程度； 根据所述余量值与预设阈值之间的大小关系，重新确定所述任一所述潜在缺陷芯片的测试结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳米飞泰克科技股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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