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龙图腾网获悉中国科学院紫金山天文台申请的专利先进天基太阳天文台硬X射线成像仪的性能监测及评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119126193B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411180537.0，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权先进天基太阳天文台硬X射线成像仪的性能监测及评估方法是由刘伟;张哲;张岩;陈灯意;胡一鸣;苏杨;陈维;黄宇;万强;江贤恺;汪昊翔设计研发完成，并于2024-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本先进天基太阳天文台硬X射线成像仪的性能监测及评估方法在说明书摘要公布了：本发明提出了一种先进天基太阳天文台硬X射线成像仪的性能监测及评估方法，包括：获取HXI相关的温度和电压数据，分析其随时间的变化趋势，并筛选出正常工作电压范围内的有效数据；结合观测数据的低计数率区域对数据进行进一步筛选，剔除异常数据，最终获取逐事例和能谱数据；对获取的能谱数据进行特征峰的拟合和能量定标，得到增益、峰面积和能量分辨率等性能参数。最后，通过分析温度、电压、增益、峰面积和能量分辨率，确定异常点并进行评估。本发明通过系统化的数据处理和异常检测方法，提高了HXI在轨监测的效率和准确性；通过多参数综合分析，增强了对仪器状态的实时监测能力，确保了仪器的稳定运行和高质量数据的获取。

本发明授权先进天基太阳天文台硬X射线成像仪的性能监测及评估方法在权利要求书中公布了：1.一种先进天基太阳天文台硬X射线成像仪的性能监测方法，其特征在于，包括： 获取卫星平台的工程参数、HXI的工程参数以及HXI的科学数据； 从卫星平台的工程参数中获取HXI上各测温点不同时刻的温度值与FEE板不同时刻的电压值，建立温度与电压的时间序列图；从HXI的工程参数中获得量能器探头和FEE板的温度时变信息，建立温度的时间序列图；从HXI的科学数据中筛选出观测数据，从中获取逐事例谱与能谱，并得到每帧的各探头的总计数，建立计数的时间序列图； 根据电压的时间序列图和计数的时间序列图，结合设定的工作电压区间、计数区间和帧间隔筛选观测数据； 对筛选出的观测数据的逐事例谱与能谱进行非线性修正；利用非线性修正后的逐事例谱进行能量定标，确定ADC道数与能量之间的关系；根据ADC道数与能量之间的关系，得到各探头的增益的时间序列图，并对能谱中的特征峰进行拟合，得到特征峰的拟合参数；根据特征峰的拟合参数，得到特征峰的峰面积与能量分辨率的时间序列图； 通过温度与电压的时间序列图，检测温度与电压的异常数据；通过增益、峰面积与能量分辨率的时间序列图，检测增益、峰面积和能量分辨率的异常数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院紫金山天文台，其通讯地址为：210008 江苏省南京市栖霞区元化路10号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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