三菱电机株式会社高桥庆多获国家专利权
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龙图腾网获悉三菱电机株式会社申请的专利噪声分析装置、噪声分析方法以及程序获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119183533B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202380039878.3，技术领域涉及：G01R29/26；该发明授权噪声分析装置、噪声分析方法以及程序是由高桥庆多设计研发完成，并于2023-03-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本噪声分析装置、噪声分析方法以及程序在说明书摘要公布了：时间范围设定部14获取半导体元件的多次开闭分别发生的多个发生时刻toni、toffi。相位变换部14a、14b生成用于对半导体元件在开闭时的噪声谱执行反映多个发生时刻的时间差的相位变换的多个相位差信息。加法部18通过将利用多个相位差信息分别对半导体元件在开闭时的噪声谱SPNon、SPNoff进行相位变换得到的多个噪声谱NSoni、NSoffi相加来计算由半导体元件的开闭产生的合计谱的计算结果RTNS。
本发明授权噪声分析装置、噪声分析方法以及程序在权利要求书中公布了：1.一种噪声分析装置，计算由作为半导体元件的接通及断开中至少之一的开闭所产生的噪声的合计谱，该噪声分析装置具备： 第1获取部，获取表示在包含所述半导体元件的多次开闭的噪声分析对象期间中所述多次开闭分别发生的多个发生时刻的信息； 相位变换部，生成与由所述第1获取部获取到的所述多个发生时刻分别对应的多个相位差信息，该多个相位差信息用于对所述半导体元件在所述开闭时的噪声源谱执行反映所述多次开闭的时间差的相位变换；以及 第1加法部，用于计算将多个噪声谱相加得到的所述合计谱，所述多个噪声谱是利用所述多个相位差信息分别对所述半导体元件在所述开闭时的噪声源谱进行相位变换而得到的。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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