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龙图腾网获悉南京大学申请的专利一种针对像素间的空间非均匀性的复合矫正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119277218B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411431538.8，技术领域涉及：H04N25/671；该发明授权一种针对像素间的空间非均匀性的复合矫正方法是由李张南;刘鑫;沈凡翔;王凯;顾郅扬;王允中;余苏霖;李铸轩设计研发完成，并于2024-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对像素间的空间非均匀性的复合矫正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种针对像素间的空间非均匀性的复合矫正方法，属于半导体技术领域。所述方法应用于复合介质栅光敏探测器组成的像素阵列中，根据复合介质栅光敏探测器特性分段拟合出每个像素的光响应曲线模型，根据光响应曲线模型数据，采用多点均场矫正的方法矫正由复合介质栅光敏探测器组成的像素阵列采集的数据，并且针对于异常情况采用单点矫正方法进行矫正；该方案不仅可以良好地矫正DRNU，还可以良好地矫正PRNU，同时可以解决复合介质栅光敏探测器的光响应曲线中微光成像和接近满阱时非线性的问题，进一步的，还可以根据探测器自身的缓存能力，减少或提高拟合的段数以及是否抛弃异常情况。

本发明授权一种针对像素间的空间非均匀性的复合矫正方法在权利要求书中公布了：1.一种针对像素间的空间非均匀性的复合矫正方法，其特征在于，所述方法应用于由复合介质栅光敏探测器组成的像素阵列中，所述方法包括： 步骤S1，采用分段拟合的方式拟合出每个像素的光响应曲线模型； 步骤S2，根据光响应曲线模型数据，采用多点均场矫正方法矫正由复合介质栅光敏探测器组成的像素阵列采集的数据； 步骤S3，判断采用多点均场矫正方法矫正后的数据对应的固定图形噪声是否超过预设的DN阈值； 步骤S4，若矫正后的数据对应的固定图形噪声仍然超过预设DN阈值，则进一步采用单点均场矫正方法进行矫正； 所述步骤S2根据光响应曲线模型数据，采用多点均场矫正方法矫正由复合介质栅光敏探测器组成的像素阵列采集的数据，包括： 步骤S2.1，获取复合介质栅光敏探测器组成的像素阵列采集的需矫正的图像数据，并减去相同积分时间的实拍的暗场图像数据，得到纯光响应数据； 步骤S2.2，确定每个像素在一次拟合后的光响应曲线上所处位置，根据其所处位置进行矫正，矫正后的DN值记为DNcorrect，计算方式如下： DNcorrect＝K*Photon 其中，DNdata为任一像素DN值，任一像素在一次拟合后的光响应曲线上所处位置对应的斜率记为m，截距记为b；meandata_DN为待矫正图片的DN值均值，meanPhoton为待矫正图片中每个像素的DN值通过光响应曲线转化为Photon值的均值； 所述步骤S4包括： 若矫正后的数据对应的固定图形噪声仍然超过预设DN阈值，则在模型数据中找到与之DN值相距最近的DN值点，为DNmodel，矫正后的DN值DNcorrect具体计算如下： DNcorrect＝meanmodel-DNmodel-DNdata 其中，meanmodel表示所选DN值点的图像的DN值均值。

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