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龙图腾网获悉南京大学申请的专利一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119277219B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411344100.6，技术领域涉及：H04N25/68；该发明授权一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法是由毛成;李家昌;孔祥顺;闫锋设计研发完成，并于2024-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法在说明书摘要公布了：一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法，包括如下步骤：步骤一：对工作在检测模式下时间延迟积分SPAD阵列中每个像素在一个曝光周期内的计数值进行检测；步骤二：依次输出所有光子的计数值并依据计数值检测结果判断当前像素是否为坏点并记录坏点位置，由坏点位置得到屏蔽矩阵，并依据屏蔽矩阵实现对坏点像素的屏蔽；步骤三：当SPAD阵列工作于TDI模式时最后一级像素完成曝光后输出光子计数值，依据该计数值所在屏蔽矩阵行中屏蔽像素数完成计数值恢复。本发明将SPAD像素坏点屏蔽技术与时间延迟积分SPAD阵列相结合，通过屏蔽技术与恢复技术的共用有效降低了SPAD阵列中某级坏点像素对整级光子计数值的影响，极大地提高了SPAD阵列的有效性和稳定性。

本发明授权一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法在权利要求书中公布了：1.一种时间延迟积分SPAD阵列的坏点检测、屏蔽与恢复方法，其特征在于：包括如下步骤： 步骤一：对工作在检测模式下时间延迟积分SPAD阵列中每个像素在一个曝光周期内的计数值进行检测； 步骤二：依次输出所有光子的计数值并依据计数值检测结果判断当前像素是否为坏点并记录坏点位置，由坏点位置得到屏蔽矩阵，并依据屏蔽矩阵通过驱动电路实现对坏点像素的屏蔽； 步骤三：当SPAD阵列工作于TDI模式时最后一级像素完成曝光后输出光子计数值，依据该计数值所在屏蔽矩阵行中屏蔽像素数完成计数值恢复； 所述的屏蔽矩阵的大小为元素为1或0；若计数值正常则该像素正常，标记位置为1；若计数值过高或过低则判断为出现坏点，标记位置为0；若第行第列出现坏点x=M,y=L，则将屏蔽矩阵中改为0；检测计算机完成所有的像素判断后得到屏蔽矩阵； 在完成检测模式并根据屏蔽矩阵对像素进行屏蔽处理后该时间延迟积分SPAD阵列便可工作在TDI模式正常使用，此时设第x行最后一级电路在完成曝光后输出光子计数值Q，对Q进行恢复处理便可得到正确的计数值，从而减小坏点对结果的影响；所述的光子计数值Q共经过M级像素，设其中有N个像素进行了计数值屏蔽，此时该SPAD阵列所对应的屏蔽矩阵中第x行共有N个元素0和M-N个元素1，所输出的光子计数值Q是M-N个曝光周期内得到的光子计数值结果；由检测计算机依据光子计数值Q与屏蔽矩阵该行中元素0的个数N进行数学计算，=QM-N*M，即为像素阵列经过屏蔽修复后得到的光子计数值。

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