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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种基于相位敏感非厄米四波混频的光学相位测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119555224B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411727043.X，技术领域涉及：G01J9/00；该发明授权一种基于相位敏感非厄米四波混频的光学相位测量方法是由顾敏;黄瑞聪;刘冬梅;王文聪设计研发完成，并于2024-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于相位敏感非厄米四波混频的光学相位测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于相位敏感非厄米四波混频的光学相位测量方法，包括产生相位敏感非厄米四波混频过程；对四波混频过程中出射的信号光和闲频光进行探测，得到1型纠缠判据和2型纠缠判据的测量结果，利用1型纠缠判据和2型纠缠判据的测量结果实现对光学相位的测量。本发明使用相位敏感非厄米四波混频过程的原理机制，通过其表现出的非厄米特性和光学相位敏感性，通过测量1型纠缠判据以实现高灵敏度的光学相位测量，具有鲁棒性强和灵敏度更高的优点；本发明基于相位敏感非厄米四波混频过程的光学相位测量方法，结合现有的零差检测技术实现高灵敏度的光学相位测量，具有可行性高的优点。

本发明授权一种基于相位敏感非厄米四波混频的光学相位测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于相位敏感非厄米四波混频的光学相位测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、产生相位敏感非厄米四波混频过程； 所述的四波混频过程由信号光、闲频光和泵浦光以及非线性介质共同作用产生； 所述的泵浦光具有待测相位并与信号光和闲频光一同入射到非线性介质中发生四波混频过程，四波混频过程中每湮灭2个泵浦光子，同时产生1个信号光子和1个闲频光子； 所述的四波混频过程动力学耦合方程的表达式为： 式中，i表示虚数单位；表示对演化距离z求偏导；表示厄米共轭符号；HAPT表示非厄米哈密顿量矩阵；as为信号场算符，ai为闲频场算符； 所述的四波混频过程动力学耦合方程对应的非厄米哈密顿量矩阵HAPT满足APT对称性，HAPT中具备可调控的非厄米参数； 所述的非厄米哈密顿量矩阵HAPT的表达式为： 式中，失谐量Δ＝-Δk2，表示实数非线性耦合系数；i表示虚数单位；为相位；为泵浦光的待测相位；Δk表示相位失配；Δk＝2kp-ks+kicosθ；kp、ks和ki分 别为泵浦光、信号光和闲频光的波数，θ为泵浦光与信号光的夹角； HAPT中可调控的非厄米参数为：相位实数非线性耦合系数，失谐量Δ＝-Δ k2； S2、对四波混频过程中出射的信号光和闲频光进行探测，得到1型纠缠判据和2型纠缠判据的测量结果，利用1型纠缠判据和2型纠缠判据的测量结果实现对光学相位的测量； 采用零差检测技术对出射的信号光和闲频光进行探测，得到1型纠缠判据和2型纠缠判据的测量结果； 所述的1型纠缠判据E1的表达式如下： E1＝Varqs-qi+Varps+pi； 式中，Var表示求方差处理；qs表示信号场广义位置算符；qi表示闲频场广义位置算符；ps表示信号场广义动量算符；pi表示闲频场广义动量算符； 所述的2型纠缠判据E的表达式如下： ＝Varq+q+Varp-p； 式中，Var表示求方差处理；q表示信号场广义位置算符；q表示闲频场广义位置算符；p表示信号场广义动量算符；p表示闲频场广义动量算符； 当1型纠缠判据E1或2型纠缠判据E1时对应的是纠缠弱判据；当1型纠缠判据E0.5或2型纠缠判据E0.5时，对应纠缠强判据；E和E数值越接近0，纠缠程度越高； 所述的1型纠缠判据E和2型纠缠判据E的计算表达式为： 式中，表示HAPT的其中一个本征值，z表示演化距离，失谐量Δ＝-Δk2， Δk表示相位失配；表示实数非线性耦合系数；为相位；为泵浦光的待测相 位。

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