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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119715405B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411654009.4，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法是由刘杰;张耿;李思远;王爽;冯向朋;张智南;张宁;张萧依;胡炳樑设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法，解决了现有技术中尚未见针对多狭缝高光谱数据间各像元像移差异的检测方法，制约了多狭缝高光谱成像系统优势的体现及其数据高质量应用的问题，本发明将多狭缝高光谱数据间各像元的像移量看作各图像的像移量，各像元像移量之间存在连续性，利用纵横两方向上不同的像移连续性约束HS稠密光流法实现各像元像移量的检测修正，而后基于多狭缝高光谱成像系统的畸变像移偏差、平台运动引起的成像像移偏差对通过HS稠密光流法计算得到的光流数值进行修正，剔除异常光流数值，通过线性差值计算结果补充被剔除像元位置的光流数值，得到多狭缝高光谱数据各像元的最终像移量。

本发明授权一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法在权利要求书中公布了：1.一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、获取多狭缝高光谱成像系统对同一目标推扫的多个高光谱图像数据，并对其进行预处理，设定其中一个狭缝获取的高光谱图像数据作为基准，记为第一高光谱图像数据，其余为第二高光谱图像数据； 步骤2、对第一高光谱图像数据中各谱段灰度值取均值，确定均值最大的谱段T1，找出各个第二高光谱图像数据中与所述谱段T1对应的谱段T2； 步骤3、利用HS稠密光流法，对沿轨方向与垂轨方向设置不同的光滑项系数因子，计算谱段T2中各像元相对谱段T1中各像元的光流数值，记所有光流数值为第一像移数组； 步骤4、将畸变像移偏差分别与成像像移偏差进行叠加，得到第二像移数组；所述畸变像移偏差为多狭缝高光谱成像系统的系统偏差；所述成像像移偏差为谱段T1中各像元与谱段T2中各相应像元由于成像于推扫不同时刻引起的成像偏差； 步骤5、通过第二像移数组对第一像移数组进行修正； 5.1相应计算第一像移数组与第二像移数组的像元偏差； 5.2将各个像元偏差分别与预设阈值进行比较： 若所述像元偏差小于等于预设阈值，则保留其对应的光流数值； 若所述像元偏差大于预设阈值，则将其对应的光流数值剔除，利用其垂轨方向上前后位置剩余且相邻的光流数值进行线性插值计算，其计算结果作为被剔除像元位置的光流数值； 完成第一像移数组的修正，则修正后的第一像移数组为多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正结果。

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