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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利电子元器件在预设温振环境下的环境系数计算方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119830631B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411831498.6，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权电子元器件在预设温振环境下的环境系数计算方法及装置是由吴晓鹏;王亦康;刘灿;侯嘉豪;杨银堂设计研发完成，并于2024-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本电子元器件在预设温振环境下的环境系数计算方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电子元器件在预设温振环境下的环境系数计算方法及装置。方法包括：根据待预测元器件的结构参数构建有限元模型；对有限元模型进行温度循环仿真，根据温度循环仿真的结果以及Miner定律计算温度循环损伤；以预设温度循环条件作为预应力对有限元模型进行随机振动仿真，根据随机振动仿真的结果以及Miner定律计算随机振动损伤；将温度循环损伤和随机振动损伤进行损伤叠加，根据损伤叠加的结果以及Miner定律计算得到待预测元器件的总寿命；基于总寿命以及电子设备可靠性预计手册，去除失效率中封装因素的影响，得到待预测元器件在预设温度循环条件下的环境系数，提高了电子元器件失效率预测的准确性和可靠性。

本发明授权电子元器件在预设温振环境下的环境系数计算方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件在预设温振环境下的环境系数计算方法，其特征在于，包括： 根据待预测元器件的结构参数构建有限元模型； 对所述有限元模型进行温度循环仿真，根据所述温度循环仿真的结果以及Miner定律计算温度循环损伤； 以预设温度循环条件作为预应力对所述有限元模型进行随机振动仿真，根据所述随机振动仿真的结果以及所述Miner定律计算随机振动损伤； 将所述温度循环损伤和所述随机振动损伤进行损伤叠加，根据损伤叠加的结果以及所述Miner定律计算得到所述待预测元器件的总寿命； 基于所述总寿命以及电子设备可靠性预计手册，去除失效率中封装因素的影响，得到所述待预测元器件在预设温度循环条件下的环境系数； 所述基于所述总寿命以及电子设备可靠性预计手册，去除失效率中封装因素的影响，得到所述待预测元器件在预设温度循环条件下的环境系数，包括： 基于所述总寿命和第一预设公式计算得到所述待预测元器件的失效率； 通过所述电子设备可靠性预计手册，查表得到所述待预测元器件的封装复杂度失效率； 利用第二预设公式、所述失效率以及所述封装复杂度失效率，得到所述环境系数； 其中，所述第一预设公式表示为：，表示总寿命； 所述第二预设公式表示为：；表示封装复杂度失效率，表示所述环境系数。

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