深圳米飞泰克科技股份有限公司吴志军获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳米飞泰克科技股份有限公司申请的专利芯片测试系统获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223471113U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-24发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422425114.2,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型芯片测试系统是由吴志军;杨泽坤;楚志华;李安平;李晓白设计研发完成,并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试系统在说明书摘要公布了:本申请提供一种芯片测试系统,属于芯片测试技术领域。芯片测试系统包括分选温度测试装置与芯片参数测试装置。分选温度测试装置用于对被测芯片进行定位,并调节被测芯片的多个工作环境温度。芯片参数测试装置用于与被测芯片连接,芯片参数测试装置用于在每个工作环境温度下,对被测芯片进行直流参数测试、时间参数测试以及射频参数测试。分选温度测试装置与芯片参数测试装置连接,用于根据直流参数测试的结果、时间参数测试的结果以及射频参数测试的结果,对被测芯片进行分选。本申请提供的芯片测试系统不需要依靠于不同的温度测试平台之间进行温度切换测试,也不需要在多个功能测试平台之间进行分步功能测试,提高了芯片的测试效率。
本实用新型芯片测试系统在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试系统,其特征在于,包括: 分选温度测试装置10,用于对被测芯片20进行定位,并调节所述被测芯片20的多个工作环境温度; 芯片参数测试装置30,用于与所述被测芯片20连接,所述芯片参数测试装置30用于在每个所述工作环境温度下,对所述被测芯片20进行直流参数测试、时间参数测试以及射频参数测试; 所述分选温度测试装置10与所述芯片参数测试装置30连接,用于根据所述直流参数测试的结果、所述时间参数测试的结果以及所述射频参数测试的结果,对所述被测芯片20进行分选。
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