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龙图腾网获悉杭州长川科技股份有限公司申请的专利一种电子元件平移式测试分选机获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114029249B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111275814.2，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种电子元件平移式测试分选机是由郑军;黄举;邬晨欢;钱徐锋设计研发完成，并于2021-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元件平移式测试分选机在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电子元件平移式测试分选机，属于芯片测试设备技术领域，其具有电子元件低温测试功能，分选机包括料管、上料运料区、测试区和下料运料区，料管包括用于上料的上料料管和用于下料的下料料管，分选机还包括一级密封腔和二级密封腔，且一级密封腔中充有干燥气，测试区位于一级密封腔内，上料运料区和下料运料区位于二级密封腔内，一级密封腔与二级密封腔之间、料管与二级密封腔之间能够连通，以承接电子元件，本方案中，除了在测试区设置密封外，紧挨测试区的上料运料区和下料运料区也设置密封，以增大密封范围，降低和减缓测试密封腔内干燥气的逸散，保证测试区的干燥环境，提升防霜结露效果。

本发明授权一种电子元件平移式测试分选机在权利要求书中公布了：1.一种电子元件平移式测试分选机，具有电子元件低温测试功能，所述分选机包括料管、上料运料区、测试区和下料运料区，所述料管包括用于上料的上料料管和用于下料的下料料管，其特征在于，所述分选机还包括一级密封腔和二级密封腔，且所述一级密封腔和二级密封腔中充有干燥气，所述测试区位于所述一级密封腔内，所述测试区能够对所述电子元件进行低温测试；所述上料运料区和所述下料运料区位于所述二级密封腔内，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间、所述料管与所述二级密封腔之间能够连通，以承接所述电子元件，所述一级密封腔与所述二级密封腔配合能够防止电子元件在相对低温的测试区和相对高温的上料运料区、下料运料区凝霜结露， 所述一级密封腔与所述二级密封腔之间开设取料口，并通过所述取料口实现所述电子元件在所述一级密封腔与所述二级密封腔之间的流转，所述取料口上设有自动门和动力机构，所述动力机构控制所述自动门开合以实现所述取料口的打开和封闭； 所述二级密封腔包括上料密封腔，所述取料口包括开设在所述上料密封腔与所述一级密封腔之间的第一取料口，所述上料运料区位于所述上料密封腔内，所述上料运料区设置有上料直振轨道、放料轨道和放料梭，所述上料直振轨道与所述上料料管连通并承接所述上料料管中的电子元件，所述放料轨道设在所述上料直振轨道远离所述上料料管的一端，所述放料梭在所述放料轨道上往复运动，以将所述上料直振轨道上的电子元件运送至所述第一取料口，且所述放料梭中的电子元件通过所述第一取料口被搬运至所述测试区； 所述上料密封腔包括连通的第一上料密封腔和第二上料密封腔，所述放料轨道远离所述上料直振轨道的一端置于所述第二上料密封腔内，所述第二上料密封腔的侧壁和或顶壁上开设所述第一取料口； 所述电子元件为带有引脚的电子元件或无引脚的电子元件。

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