株式会社东芝雁木比吕获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社东芝申请的专利设计支援方法、设计支援系统以及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114595653B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110985646.X,技术领域涉及:G06F30/36;该发明授权设计支援方法、设计支援系统以及存储介质是由雁木比吕;田口安则设计研发完成,并于2021-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本设计支援方法、设计支援系统以及存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供一种能够支援半导体元件的设计的设计支援方法、设计支援系统、程序以及存储介质。在实施方式的设计方法中,向模拟器输入包括与半导体元件相关的多个设计值的设计值组。在设计方法中,获取对应于设计值组的输入而从模拟器输出的特性值组。特性值组包括半导体元件的多个特性值。多个特性值包括表示导通电阻的第1特性值和表示耐压的第2特性值。在设计方法中,根据包括1个以上的数据集合的历史数据计算基于贝叶斯估计的获取函数,所述数据集合是所述设计值组和通过向第1函数输入所述特性值组的一部分而计算出的评分的数据集合。特性值组的一部分包括第1特性值和第2特性值。在设计方法中,基于获取函数生成新的设计值组。
本发明授权设计支援方法、设计支援系统以及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种设计支援方法,其中, 向模拟器输入包括与半导体元件相关的多个设计值的设计值组, 获取对应于所述设计值组的输入而从所述模拟器输出的特性值组,所述特性值组包括所述半导体元件的多个特性值,所述多个特性值包括表示导通电阻的第1特性值和表示耐压的第2特性值, 根据包括1个以上的数据集合的历史数据计算基于贝叶斯估计的获取函数,所述数据集合是所述设计值组和通过向第1函数输入所述特性值组的一部分而计算出的评分的数据集合,所述特性值组的所述一部分包括所述第1特性值和所述第2特性值, 基于所述获取函数生成新的所述设计值组, 反复执行处理集合,该处理集合包括向所述模拟器输入所述设计值组、获取所述特性值组、计算所述获取函数以及生成新的所述设计值组, 多个所述处理集合包括第1处理集合和第2处理集合, 在所述第1处理集合中: 基于所述获取函数计算所述多个设计值的一部分, 生成包括所述多个设计值的所述一部分和被固定的剩余的所述设计值的新的所述设计值组, 在所述第2处理集合中: 基于所述获取函数计算所述多个设计值的另一部分, 生成包括所述多个设计值的所述另一部分和被固定的剩余的所述设计值的新的所述设计值组。
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