深圳市江波龙电子股份有限公司郭战武获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市江波龙电子股份有限公司申请的专利固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115206405B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110391643.3，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质是由郭战武设计研发完成，并于2021-04-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。该固态硬盘的测试方法包括对待测固态硬盘进行性能测试，得到待测固态硬盘的第一性能指标。改变待测固态硬盘的工作参数，并对改变工作参数后的待测固态硬盘进行性能测试，得到改变工作参数后的待测固态硬盘的第二性能指标。基于第一性能指标与第二性能指标确定待测固态硬盘的性能跌落情况。本申请方案能够结合多个真实的工作场景对固态硬盘的性能进行测试，对固态硬盘的性能进行全面考察。
本发明授权固态硬盘的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘的测试方法，其特征在于，所述方法包括： 判断待测固态硬盘是否支持写缓存功能； 若是，则获取所述待测固态硬盘的初始写缓存状态； 在所述待测固态硬盘处于所述初始写缓存状态时，对所述待测固态硬盘进行性能测试，得到所述待测固态硬盘的第一性能指标； 交替改变K次所述待测固态硬盘的写缓存状态，K=1，2，……； 其中，在第M次改变所述待测固态硬盘的写缓存状态之后，对所述待测固态硬盘进行第M次性能测试，得到第M次改变写缓存状态后的所述待测固态硬盘的第二性能指标，M=1,2，……，K；其中，第一次改变所述待测固态硬盘的写缓存状态之后得到的写缓存状态与所述初始写缓存状态相反； 在K个所述第二性能指标中，若对应相同写缓存状态的第二性能指标的波动率不超过预设阈值，则确定所述待测固态硬盘的性能没有跌落。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市江波龙电子股份有限公司，其通讯地址为：518057 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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