中国科学院合肥物质科学研究院张传国获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利应用于多晶系的缺陷检索方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115294012B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210389220.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权应用于多晶系的缺陷检索方法及系统是由张传国;汪瑜;李磊;曾雉设计研发完成，并于2022-04-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本应用于多晶系的缺陷检索方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开一种应用于多晶系的缺陷检索方法及系统，属于晶界分析技术领域，方法包括：基于壳层定义，确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数Np基于近邻原子数Np，确定参考矢量集和实际矢量集；将参考矢量集中的第一参考矢量两两相加并取最小值，得到第二参考矢量基于参考矢量集和实际矢量集，计算比例参数λ；基于实际矢量集中的实际矢量、第二参考矢量和比例参数，计算E‑CSP值。本发明中对传统的CSP方法进行改进，改进后的E‑CSP方法适用于所有晶系的缺陷检索。
本发明授权应用于多晶系的缺陷检索方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种应用于多晶系的缺陷检索方法，其特征在于，所述方法包括： 基于壳层定义，确定待测晶胞第一壳层的近邻原子数Np，其中，所述壳层定义为：与中心原子具有相同类型的键的原子称为在同一个壳层； 基于所述近邻原子数Np，确定参考矢量集和实际矢量集，包括：基于扩八胞后中心原子的坐标，选取Np2对第一参考矢量，构建中心原子的参考矢量集基于所述中心原子的实际测量结果，查找最近Np个实际矢量，构建所述实际矢量集分别基于所述参考矢量和所述实际矢量的模长，对所述第一参考矢量和所述实际矢量进行排序； 将所述参考矢量集中的第一参考矢量两两相加并取最小值，得到第二参考矢量 基于所述参考矢量集和所述实际矢量集，计算比例参数λ，包括：根据排序后的所述第一参考矢量和排序后的所述实际矢量之间的一一对应关系，计算所述比例参数λ，公式表示如下： 其中，为排序后的第j个所述实际矢量的模长，为排序后的第j个所述第一参考矢量的模长； 基于所述实际矢量集中的实际矢量所述第二参考矢量和所述比例参数λ，计算E-CSP值为：
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