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龙图腾网获悉歌尔股份有限公司申请的专利外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115456969B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211043508.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质是由冯蓬勃;谢学智;张富强;李会富设计研发完成，并于2022-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本公开涉及缺陷检测领域，具体涉及外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质。所述外观缺陷的检测方法，包括：对于目标物的至少一个点位中的每个点位，获取所述点位的外观图像，对所述点位的外观图像进行第一检测，确定所述点位的外观是否存在预设缺陷，在所述点位的外观存在预设缺陷的情况下，根据所述预设缺陷的类型确定所述目标物的外观是否存在缺陷。

本发明授权外观缺陷的检测方法、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种外观缺陷的检测方法，其特征在于，包括： 对于目标物的至少一个点位中的每个点位，获取所述点位的外观图像； 对所述点位的外观图像进行第一检测，确定所述点位的外观是否存在预设缺陷； 在所述点位的外观存在预设缺陷的情况下，根据所述预设缺陷的类型确定所述目标物的外观是否存在缺陷； 所述在所述点位的外观存在预设缺陷的情况下，根据所述预设缺陷的类型确定所述目标物的外观是否存在缺陷，包括： 在所述点位存在脏污缺陷的情况下，检测所述外观图像中的缺陷部分的脏污像素点； 在所述外观图像中的脏污像素点的个数大于预设个数阈值的情况下，确定所述目标物的外观存在缺陷； 其中，所述检测所述外观图像中的缺陷部分的脏污像素点，包括： 对所述外观图像的缺陷部分进行灰度化处理； 计算所述外观图像的缺陷部分的图像矩阵的标准差； 根据所述标准差与预设函数，确定所述外观图像的缺陷部分的第一参数，所述预设函数为所述标准差与所述第一参数的线性函数； 根据所述第一参数，对所述外观图像的缺陷部分进行二值化处理，以确定所述外观图像的缺陷部分中的脏污像素点； 在所述检测外观图像中的缺陷部分的脏污像素点之前，方法还包括： 获取m张外观图像的标准差std与第一参数C，将每一张外观图像的标准差与第一参数分别作为一组训练数据，获得包括m组训练数据的训练集； 初始化拟合函数hθstd＝θi0+θi1×std，初始化参数θi0＝θi1＝0，初始化学习率α＝0.001，初始迭代次数k＝0； 将所述训练集输入应用梯度下降算法，对初始化拟合函数进行迭代； 更新损失函数并计算偏导数根据所述偏导数更新其中θi中包括θi0和θi1； 当迭代次数k满足要求或函数满足要求的情况下，输出所述预设函数：hθstd＝θk0+θk1std。

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