长鑫存储技术有限公司陈亮获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利测试信号的时间补偿方法及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115561566B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110753138.9,技术领域涉及:G01R31/01;该发明授权测试信号的时间补偿方法及装置是由陈亮;兰雪萌设计研发完成,并于2021-07-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试信号的时间补偿方法及装置在说明书摘要公布了:本申请实施例提供的测试信号的时间补偿方法及装置,在信号源向测试平台上的测试单元发送测试信号时,能够由补偿装置确定测试信号因阻抗匹配给每个测试位置上侧测试单元所带来的时延,并根据时延对信号源向不同测试单元发送的时钟信号进行时间补偿,使得测试单元能够更加准确地接收到测试信号,进而提高了使用测试平台对器件进行测试的准确度。
本发明授权测试信号的时间补偿方法及装置在权利要求书中公布了:1.一种测试信号的时间补偿方法,其特征在于,包括: 信号源向测试平台上的多个测试位置的测试单元发送测试信号时,获取每个所述测试单元的时间参数;其中,所述信号源到每个所述测试位置之间的传输路径上存在的阻抗不同,所述时间参数用于指示传输路径上的阻抗是否影响所述测试单元接收所述测试信号; 所述时间参数包括:多个频率的时钟信号、测试信号的多个建立时间以及标识信息的对应关系; 其中,所述标识信息用于指示当所述测试单元分别以多个建立时间接收所述测试信号时,所述测试单元分别根据所述多个频率的时钟信号,是否能够准确接收到所述测试信号; 根据目标时间参数和每个所述测试单元的时间参数,确定所述多个测试单元所在的多个测试位置所对应的补偿参数; 向所述信号源发送所述多个测试位置对应的多个补偿参数,以使所述信号源根据所述多个补偿参数,对向所述多个测试位置发送的时钟信号进行时间补偿。
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