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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于自适应时域门控的近场直线采样RCS测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115932768B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310041943.8，技术领域涉及：G01S7/40；该发明授权基于自适应时域门控的近场直线采样RCS测量方法是由张依轩;毕志超;焦永昌;张玉;王楠设计研发完成，并于2023-01-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于自适应时域门控的近场直线采样RCS测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于自适应时域门控的近场直线采样RCS测量方法，实现步骤为：获取待测目标和定标体的连续回波信号；对通过近场采样获取到的回波数据进行相位中心补正；根据测量位置的不同，确定标定相位中心到坐标原点之间的估计自适应距离，选定门函数，对补正后的回波信号进行时间选通，实现自适应时域门控；获取待测物体和定标体的二维平面波谱；通过扫描探头对二维平面波谱进行补偿；获取目标RCS近场测量结果。本发明在近场直线测量的基础上结合了自适应时域门控，避免了现有技术中通用时域门控范围难以对噪声有效滤除的问题，降低测量时间，提高了测量精度。

本发明授权基于自适应时域门控的近场直线采样RCS测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于自适应时域门控的近场直线采样RCS测量方法，其特征在于，利用扫描探头对待测目标、定标体和空背景进行均匀直线采样，计算每个测量位置下标定相位中心到坐标原点之间的估计自适应距离，获取待测目标的相对雷达散射截面积、定标体的相对雷达散射截面积；该测量方法的步骤包括如下： 步骤1，获取待测目标和定标体在均匀直线采样下的连续回波信号： 步骤1.1，利用扫描探头对待测目标、定标体和空背景进行均匀直线采样，分别获取背景噪声下L个采样点的待测目标、定标体和空背景均匀直线采样下的离散回波信号；其中，Δx表示均匀直线采样间隔，c表示光速，f表示扫描探头的工作频率，L表示均匀直线采样点的总数，Lx表示扫描探头的扫描路径长度； 步骤1.2，分别计算每个直线采样点上待测目标、定标体与空背景的离散回波数据的差，得到待测目标的离散回波信号、定标体的离散回波信号； 步骤1.3，将待测目标的离散回波信号、定标体的离散回波信号分别变换为待测目标的连续回波信号、定标体的连续回波信号； 步骤2，分别对待测目标的连续回波信号、定标体的连续回波信号进行相位中心补正： 步骤2.1，按照下式，计算待测目标、定标体的连续回波信号的相位偏移量： 其中，Rdel表示回波信号的相位偏移量，tpeak表示从采样指令发出到接收到回波数据的时间长度，dmea表示待测目标的尺寸半径，Rmea表示扫描探头到待测目标几何中心的距离； 步骤2.2，使用相位偏移量分别对待测目标的连续回波信号、定标体的连续回波信号进行补正，得到补正后的待测目标的连续回波信号、补正后的定标体的连续回波信号； 步骤3，分别对补正后的待测目标的连续回波信号、补正后的定标体的连续回波信号进行时间选通： 步骤3.1，按照下式，计算每个测量位置下标定相位中心到坐标原点之间的估计自适应距离： 其中，Radp,n表示平面直角坐标系中第n个测量位置下标定相位中心到坐标原点之间的估计自适应距离，xn表示平面直角坐标系中第n个测量位置x轴的坐标值； 步骤3.2，按照下式，计算每个测量位置下的门函数： 其中，Gnxn,R0表示在平面直角坐标系下第n个测量位置的门函数表达式，Rk表示门函数上第k个点到相位中心的距离，|·|表示取绝对值操作，Rgate表示门函数的宽度； 步骤3.3，计算时间选通后的待测目标的连续回波信号、时间选通后的定标体的连续回波信号； 步骤4，按照下式，分别通过时间选通后的待测目标、定标体的连续回波信号计算待测目标的二维平面波谱、定标体的二维平面波谱： 其中，A0kx,f、A1kx,f分别表示待测目标、定标体的二维平面波谱，kx、ky分别表示二维平面波谱坐标系下的kx轴坐标、ky轴坐标值，e·表示以自然对数为底的指数操作，j表示虚数单位符号，π表示圆周率，分别表示时间选通后的待测目标、定标体的连续回波信号； 步骤5，通过扫描探头分别对待测目标的二维平面波谱、定标体的二维平面波谱进行补偿： 步骤5.1，按照下式，得到局部坐标系下的扫描探头二维平面波谱： 其中，表示局部坐标系下的扫描探头二维平面波谱，ET、ER分别表示扫描探头的发射端、接收端的远场切面方向图，表示扫描探头的观察角度，cos·表示余弦函数； 步骤5.2，按照下式，得到平面直角坐标系下的扫描探头的二维平面波谱： 其中，PTRkx,f表示平面直角坐标系下的扫描探头的二维平面波谱； 步骤5.2，按照下式，分别得到补偿后的待测目标的二维平面波谱、补偿后的定标体的二维平面波谱； 其中，分别表示补偿后的待测物体、定标体的二维平面波谱； 步骤6，获取目标RCS近场测量结果： 步骤6.1，分别对补偿后的待测目标的二维平面波谱、补偿后的定标体的二维平面波谱进行线性近场到远场转化，分别获取待测目标的相对雷达散射截面积、定标体的相对雷达散射截面积； 步骤6.2，按照下式，通过定标体的相对雷达散射截面积对待测目标的相对雷达散射截面积进行定标校准，得到待测目标的远场绝对雷达散射截面积： 其中，表示近场直线测量下得到的待测目标的远场绝对雷达散射截面积，分别表示待测物体、定标体的相对雷达散射截面积，表示定标体的绝对雷达散射截面积。

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