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龙图腾网获悉海光信息技术股份有限公司申请的专利一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116050314B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111642215.X，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置是由孙玉磊设计研发完成，并于2021-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置在说明书摘要公布了：本发明实施例公开一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置，涉及电子设计自动化领域，能够提高芯片验证效率。所述芯片验证方法包括：在预设验证环境下接收验证指令，并根据所述验证指令确定验证操作所涉及的目标电路模块，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块；根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系；根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例。

本发明授权一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括： 在预设验证环境下接收验证指令，并根据所述验证指令确定验证操作所涉及的目标电路模块，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块； 根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系； 根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例，所述待验证用例用于在所述预设验证环境下，对所述目标电路模块进行验证； 其中，所述根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值之前，所述方法还包括： 将所述目标IP模块在例化中的可变因素，转化为对应的实例化参数，其中，所述可变因素包括以下至少一项：端口类型、端口协议、端口名称、内部逻辑； 根据所述目标IP模块的各实例化模块在各自应用场景下的待验证特性，为所述各实例化模块的实例化参数配置对应的参数值； 所述根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值包括：根据所述目标电路模块的标识信息，从所述各实例化模块中查找所述标识信息对应的第一实例化模块，将所述第一实例化模块的实例化参数的参数值作为所述目标电路模块的实例化参数的参数值。

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