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龙图腾网获悉南开大学申请的专利一种材料表面及亚表面三维微观结构成像方法及应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116067914B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211660704.2，技术领域涉及：G01N21/45；该发明授权一种材料表面及亚表面三维微观结构成像方法及应用是由梁艳梅;杨迪设计研发完成，并于2022-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种材料表面及亚表面三维微观结构成像方法及应用在说明书摘要公布了：一种材料表面及亚表面三维微观结构成像方法及应用。该方法包括：利用OCT系统对样品进行扫描、采集并计算，获得材料表面及亚表面的微米级三维微观结构图像；针对所述微米级三维微观结构图像中的感兴趣区域，提取感兴趣区域复数信号的相位信息，实现该区域的纳米级微观结构成像。本发明与现有技术相比的优点和有益效果是：简捷高效，可快速实现材料表面及亚表面微米级三维微观结构成像；并对感兴趣区域实现纳米级微观结构成像。

本发明授权一种材料表面及亚表面三维微观结构成像方法及应用在权利要求书中公布了：1.一种材料表面及亚表面三维微观结构成像方法，其特征在于，包括： 步骤1：利用光学相干层析OpticalCoherenceTomography,OCT系统对样品进行扫描、采集并计算，获得具有微米级分辨率的材料表面及亚表面的三维OCT图像； 步骤2：针对所述三维OCT图像中的感兴趣区域，提取感兴趣区域复数信号的相位信息，实现感兴趣区域的纳米级微观结构成像，包括： 步骤2.1：选取所述样品的三维OCT图像中的感兴趣区域，提取所述感兴趣区域三维复数信号的相位信息，计算感兴趣区域中某一位置P的相位差，生成感兴趣区域的相位差图像；计算感兴趣区域中某一位置P的相位差的方法为，计算与所述位置P相邻且对称的两个位置P1和P2的复数信号的相位差，该相位差即为所述位置P的相位差，表示为，其计算公式如下： 1 其中，和为所述两个位置P1和P2的复数信号，表示取复数信号的相位； 步骤2.2：采用频域滤波的干涉条纹滤除方法，滤除所述相位差图像中等厚或等倾干涉造成的长周期干涉条纹，获得滤除干涉条纹的相位差图像，包括： 步骤2.2.1：针对感兴趣区域的相位差图像，沿图像中长周期干涉条纹波动方向对图像进行一维傅里叶变换，获得该图像中干涉条纹的频域图像； 步骤2.2.2：在所述干涉条纹的频域图像中检测峰值，该峰值所对应的位置即为干涉条纹的频率位置； 步骤2.2.3：将干涉条纹对应的频率强度置零或者缩小至本底噪声水平，即可从频域图像中滤除干涉条纹对应的频率； 步骤2.2.4：将滤除干涉条纹对应的频率后的频域图像进行逆傅里叶变换，获得滤除干涉条纹后的复数信号； 步骤2.2.5：提取所述滤除干涉条纹后的复数信号的实部信息，获得滤除干涉条纹的相位差图像； 步骤2.3：对所述滤除干涉条纹的相位差图像，计算感兴趣区域内样品表面或亚表面的纳米级深度差异，实现感兴趣区域的纳米级微观结构成像。

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