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龙图腾网获悉清华大学申请的专利一种高精度热膨胀系数测量装置及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116519737B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310488229.3，技术领域涉及：G01N25/16；该发明授权一种高精度热膨胀系数测量装置及测量方法是由刘相波;高中彭;张鸣;杨开明;朱煜设计研发完成，并于2023-05-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高精度热膨胀系数测量装置及测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种高精度热膨胀系数测量装置及测量方法，涉及膨胀系数测量技术领域，包括真空腔、设置在真空腔内的用于放置待测样品的恒温器、设置在真空腔内用于采集到待测样品两端的距离的距离采集机构，所述距离采集机构位于恒温器外侧，还包括用于测量距离采集机构的两端采集点之间距离的总长测量组件。基于本发明的技术方案，采用多个激光干涉仪在真空环境中对待测样品的长度变化量进行测量，真空环境有效的避免了环境因素的干扰，通过合理的结构设计、加工精度要求和装配要求，可以有效的消除多项误差，从而提高测量精度。

本发明授权一种高精度热膨胀系数测量装置及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种高精度热膨胀系数测量装置，其特征在于，包括： 真空腔； 恒温器，其设置在所述真空腔内，用于放置待测样品； 距离采集机构，其包括两个距离采集器，两个所述距离采集器滑动设置在所述真空腔内，两个所述距离采集器之间的间距可调节，两个所述距离采集器分别位于所述恒温器外部两侧；以及 总长测量组件，其用于测量两个所述距离采集器之间距离； 两个所述距离采集器为分别设置在所述恒温器两侧的第一测距组件和第二测距组件；所述恒温器、所述第一测距组件和所述第二测距组件均设置在同一底座上，所述底座位于所述真空腔内； 所述第一测距组件包括：第一安装支架，以及第一干涉仪，其设置在所述第一安装支架上，且用于测量其到待测样品一端的距离；所述第二测距组件包括：第二安装支架，以及第二干涉仪，其设置在所述第二安装支架上，且用于测量其到待测样品另一端的距离；其中，所述第一安装支架和所述第二安装支架均滑动设置在所述底座上且二者分别位于所述恒温器外部两侧； 所述总长测量组件包括： 第三干涉仪，其安装在所述第一安装支架或所述第二安装支架上，且其光轴位于所述待测样品上方，以及 反射镜，其安装在所述第二安装支架或所述第一安装支架的对应侧，且与所述第三干涉仪配合； 所述反射镜与所述第三干涉仪配合用于测量所述第一安装支架与所述第二安装支架之间的距离； 所述第一干涉仪的光轴、所述第二干涉仪的光轴、所述第三干涉仪的光轴和所述待测样品放置方向相互平行。

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