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龙图腾网获悉深圳市玖润光电科技有限公司申请的专利一种MiniLED虚焊检测方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117132571B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311109444.4，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种MiniLED虚焊检测方法、装置、设备及介质是由王英;周立冬;凌洪;朱宁;李峰设计研发完成，并于2023-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种MiniLED虚焊检测方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请涉及检测技术的领域，尤其是涉及一种MiniLED虚焊检测方法、装置、设备及介质，该方法包括获取检测图像，检测图像为对MiniLED面板的X光扫描图，对检测图像进行分割，得到每个MiniLED芯片在检测图像中对应区域的子图像，子图像中包括MiniLED芯片和对应的焊接介质；确定每个子图像对应的灰度分布信息，灰度分布信息包括对应的子图像中每个坐标点的灰度值；基于每个子图像对应的灰度分布信息，确定每个MiniLED芯片的焊接质量，焊接质量包括合格和虚焊；确定每个焊接质量为虚焊的MiniLED芯片的位置。本申请能够提升虚焊检测的准确性。

本发明授权一种MiniLED虚焊检测方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种MiniLED虚焊检测方法，其特征在于，包括： 获取检测图像，所述检测图像为对MiniLED面板的X光扫描图； 获取所述MiniLED面板的焊接信息，所述焊接信息包括每个MiniLED芯片的焊接位置和标准区域，所述标准区域为预设的焊接介质在MiniLED芯片周围分布的区域； 基于所述MiniLED面板的焊接信息，对所述检测图像进行分割，得到每个MiniLED芯片在所述检测图像中对应区域的子图像，所述子图像中包括MiniLED芯片和对应的焊接介质； 确定每个所述子图像对应的灰度分布信息，所述灰度分布信息包括对应的子图像中每个坐标点的灰度值； 基于每个所述子图像对应的灰度分布信息，确定每个所述MiniLED芯片的焊接质量，所述焊接质量包括合格和虚焊； 确定每个所述焊接质量为虚焊的MiniLED芯片的位置； 基于所述灰度分布信息中的灰度值变化趋势，识别所述虚焊的MiniLED芯片中焊接介质的分布异常区域，所述分布异常区域包括灰度值突变区域和灰度值连续偏低区域； 根据所述分布异常区域的形状和位置特征，确定所述虚焊的MiniLED芯片的虚焊类型，所述虚焊类型包括空洞和异位。

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