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龙图腾网获悉厦门大学申请的专利一种待测物体表面成像系统、成像方法和缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118464918B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410583297.2，技术领域涉及：G01N21/89；该发明授权一种待测物体表面成像系统、成像方法和缺陷检测方法是由王磊;孟琪伟;林春;贺珊设计研发完成，并于2024-05-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种待测物体表面成像系统、成像方法和缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种待测物体表面成像系统、待测物体表面成像方法和待测物体表面缺陷检测方法，待测物体表面成像系统用于成像待测物体表面，包括面光源、半透半反镜、线结构光源、第一反射镜、反射组件和成像装置，成像装置的感光元件设有第一成像区域和第二成像区域，第一成像区域适于接收面光源照射待测物体所形成的图像，第二成像区域适于接收线结构光源照射待测物体所形成的图像。在同一图像的不同区域同时形成了含有表面信息的图像和含有三维信息的图像，两图像之间具有对应关系，有利于提高检测准确率和效率。基于此成像系统采取的待测物体表面成像方法及待测物体表面缺陷检测方法，进一步提高产品缺陷检测的准确率和效率。

本发明授权一种待测物体表面成像系统、成像方法和缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种待测物体表面成像系统，其用于成像第一平面上的待测物体的表面，其特征是，包括： 面光源，其朝向待测物体发射光，所述面光源发射的光为垂直于第一平面的平行光； 半透半反镜，其置于面光源与待测物体之间，所述半透半反镜倾斜于所述第一平面设置，用于让所述面光源发出的光透过以照射至待测物体，并反射待测物体对面光源光的第一反射光以形成第二反射光； 线结构光源，其朝向待测物体发射线结构光，所述线结构光倾斜于所述第一平面射向待测物体； 第一反射镜，其反射待测物体对线结构光的第三反射光以形成第四反射光； 反射组件，其设有第一反射部和第二反射部，所述第一反射部沿第一方向反射所述第二反射光形成第五反射光；所述第二反射部沿所述第一方向反射所述第四反射光形成第六反射光； 成像装置，其成像光轴沿所述第一方向延伸，其感光元件设有第一成像区域和第二成像区域，所述第一成像区域适于接收所述第五反射光，所述第二成像区域适于接收所述第六反射光。

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