北京航空航天大学许小剑获国家专利权
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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118731889B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411057916.0，技术领域涉及：G01S7/41；该发明授权雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法是由许小剑;刘天金设计研发完成，并于2024-08-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法在说明书摘要公布了：本发明公开了雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法，包括以下步骤：S1、目标全方位散射回波原始测量数据获取与脉冲压缩；S2、滤波‑逆投影二维逆合成孔径雷达ISAR成像；S3、特定散射体二维位置参数检测识别；S4、特定散射体径向距离逐方位一维高分辨距离像HRRP轨迹检测识别；S5、特定散射体逐方位回波提取；S6、进行一维频率域处理或一维时间域处理后，获取随频率和方位变化的目标散射回波数据。本发明采用上述的雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法，无需几何模型辅助，能够对混入目标散射回波的目标支架以及载体等特定散射体的回波信号实现有效抑制，从而减小背景杂波的影响，提高目标RCS测量精度。
本发明授权雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法在权利要求书中公布了：1.雷达散射截面测量中抑制特定散射体回波的一维处理方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、目标全方位散射回波原始测量数据获取与脉冲压缩； S2、滤波-逆投影二维逆合成孔径雷达ISAR成像； S3、特定散射体二维位置参数检测识别； S4、特定散射体径向距离逐方位一维高分辨距离像HRRP轨迹检测识别； S5、特定散射体逐方位回波提取； S6、进行一维频率域处理或一维时间域处理后，获取随频率和方位变化的目标散射回波数据； 步骤S4具体为： 基于特定散射体二维位置参数的信息辅助，对目标随方位变化的散射回波一维高分辨率距离像HRRP进行逐方位检测识别，即在每个雷达观测方位角下，计算特定散射体二维像上所对应反射点的坐标位置，并根据观测方位角投影关系，计算该反射点的径向距离，得到随方位变化的特定散射体一维高分辨率距离像HRRP轨迹参数。
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