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龙图腾网获悉长城信息股份有限公司申请的专利一种用于延长光电传感器使用寿命的装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119309607B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411328551.0，技术领域涉及：G01D5/26；该发明授权一种用于延长光电传感器使用寿命的装置及方法是由周彬涛;赵建青;刘守有设计研发完成，并于2024-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于延长光电传感器使用寿命的装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于延长光电传感器使用寿命的装置，包括光电传感器、光强调节模块、MCU控制器；MCU控制器的PWM端与光强调节模块的输入端连接，光强调节模块的输出端与光电传感器的发射端连接，用以通过调整MCU控制器输出PWM信号的占空比，并利用光强调节模块调控光电传感器发射端的发光电流，从而调节光电传感器发射端的光信号强度；MCU控制器的ADC端与光电传感器的接收端连接，用以采样光电传感器接收端电压；本发明基于MCU控制器，通过光强调节模块和电阻调节模块，调控光电传感器的发射端光强和接收端电压，能够有效延缓了光电传感器因光衰出现导致寿命变短问题，增强光电传感器在各种环境下使用的稳定性和准确性。

本发明授权一种用于延长光电传感器使用寿命的装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于延长光电传感器使用寿命的方法，应用于一种用于延长光电传感器使用寿命的装置，其特征在于，包括： S1、通过上位机向MCU控制器发送校准指令，并设定校准成功阈值Vref； S2、MCU控制器接收到校准指令后，通过MCU控制器ADC端对光电传感器接收端电压进行采样，得到采样电压VADC； S3、判断光电传感器的工作状态，并根据工作状态决定光电传感器是否需要校准； 所述S3具体包括如下步骤： S31、将采样电压VADC与校准成功阈值Vref进行比较； S32、当VADC≥Vref，则认为处于光电传感器处于正常工作状态，光电传感器无需校准； S33、当VADCVref，则认为光电传感器处于光衰状态，此时触发自动校准机制，对光电传感器进行校准，若校准成功，则保存此时传感器发射端的PWM信号占空比，光电传感器正常使用；若校准失败，则触发寿命延长机制，对光电传感器进行重新校准； 所述S33中，所述触发寿命延长机制的具体步骤包括： S331、打开第一开关K1，关闭第二开关K2，将下拉电阻阻值调节至第一电阻值，来改变红外接收管的发射极电压VRD，对光电传感器进行校准，并判断光电传感器是否校准成功，若校准失败，则通过步骤S332继续校准； S332、关闭第一开关K1，打开第二开关K2，将下拉电阻阻值调节至第二电阻值，来改变红外接收管的发射极电压VRD，对光电传感器进行重新校准，并判断光电传感器是否校准成功； 所述判断光电传感器是否校准成功，具体包括如下步骤： 将红外接收管的发射极电压VRD与校准成功阈值Vref进行比较； 当VRD≥Vref，则认为光电传感器校准成功，保存此时传感器发射端的PWM信号占空比，光电传感器正常使用，并向上位机发送报警信号，通过上位机调控光电传感器； 当VRDref，则认为光电传感器校准失败； 所述装置包括光电传感器、光强调节模块、MCU控制器和电阻调节模块； 所述MCU控制器的PWM端与光强调节模块的输入端连接，光强调节模块的输出端与光电传感器的发射端连接，用以通过调整MCU控制器输出PWM信号的占空比，并利用光强调节模块调控光电传感器发射端的发光电流，从而调节光电传感器发射端的光信号强度； 所述MCU控制器的ADC端与光电传感器的接收端连接，用以采样光电传感器接收端电压； 所述电阻调节模块包括第一电阻调节单元、第二电阻调节单元、第一开关K1、第二开关K2；所述第一电阻调节单元的输入端通过第一开关K1与MCU控制器的第一控制端连接，所述第一电阻调节单元的输出端与光电传感器的接收端连接； 所述第二电阻调节单元的输入端通过第二开关K2与MCU控制器的第二控制端连接，所述第二电阻调节单元的输出端与光电传感器的接收端连接。

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