紫金山实验室王玉桃获国家专利权
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龙图腾网获悉紫金山实验室申请的专利天线阵列的互耦系数确定方法、装置、设备及程序产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119402108B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411745287.0,技术领域涉及:H04B17/12;该发明授权天线阵列的互耦系数确定方法、装置、设备及程序产品是由王玉桃;李炎红;杨付乾;张培欣;高西奇设计研发完成,并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本天线阵列的互耦系数确定方法、装置、设备及程序产品在说明书摘要公布了:本发明公开了一种天线阵列的互耦系数确定方法、装置、设备及程序产品,涉及无线通信技术领域,该方法包括:获取天线阵列的测量采集参数;根据测量采集参数,确定天线阵列的S参数矩阵;根据S参数矩阵,确定天线阵列的耦合阻抗矩阵;根据耦合阻抗矩阵,确定天线阵列的耦合系数矩阵,以利用耦合系数矩阵对天线阵列的发射和或接收进行补偿。本发明采用阻抗的互耦模型,能够将互耦系数的测量转化成对多端口网络S参数的测量,避免基于信号模型中多径效应带来的影响,保证了确定的互耦系数的准确性;并且使测量过程能够直接在天线阵列中进行,并不依赖于暗室,更加不需要对天线阵列进行拆装,从而能够便捷地确定短波天线阵列的互耦系数。
本发明授权天线阵列的互耦系数确定方法、装置、设备及程序产品在权利要求书中公布了:1.一种天线阵列的互耦系数确定方法,其特征在于,包括: 获取天线阵列的测量采集参数;其中,所述测量采集参数包括利用第一测量电路测量采集的两通道测量参数和利用第二测量电路测量采集的单通道测量参数;所述天线阵列包括N个天线通道,N为大于或等于2的正整数;所述第一测量电路和所述第二测量电路均包括定向耦合器和滤波器;所述两通道测量参数的数量为N2-N,每组所述两通道测量参数包括测量输入天线通道n和测量响应天线通道m对应的第一S参数、第二S参数和第三S参数,n和m均为大于等于1且小于或等于N的正整数,n不等于m;所述单通道测量参数的数量为N,每组所述单通道测量参数包括所述测量输入天线通道n对应的第四S参数、第五S参数和第六S参数; 根据所述测量采集参数,确定所述天线阵列的S参数矩阵; 根据所述S参数矩阵,确定所述天线阵列的耦合阻抗矩阵; 根据所述耦合阻抗矩阵,确定所述天线阵列的耦合系数矩阵,以利用所述耦合系数矩阵对所述天线阵列的发射和或接收进行补偿。
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