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龙图腾网获悉天津大学申请的专利气液同轴式喷嘴平均雾化粒径预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119442565B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410244300.8，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权气液同轴式喷嘴平均雾化粒径预测方法是由侯选强;夏振炎;石怀营;田渤琳;李友鹏设计研发完成，并于2024-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本气液同轴式喷嘴平均雾化粒径预测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种考虑流体物性的气液同轴式喷嘴平均雾化粒径的预测方法，包括以下步骤：S1，获取实验数据；S2，计算不稳定波数区间；S3，不稳定波数区间离散化；S4，计算真实喷嘴系数C；S5，预测气液同轴式喷嘴平均雾化粒径。该方法能更加简单准确的给出具有物理意义的气液同轴式喷嘴平均雾化粒径的理论预测模型，有助于对雾化过程更加深入地理解和认识。该方法可以根据流体的物性参数和流动参数对气液同轴式喷嘴平均雾化粒径进行预测，有利于高效地找到合适的工况以获得理想的雾化效果，提高了喷嘴设计优化工作的效率，可有效缩短喷嘴的设计周期，具有较大的实用价值。

本发明授权气液同轴式喷嘴平均雾化粒径预测方法在权利要求书中公布了：1.一种气液同轴式喷嘴平均雾化粒径预测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，获取实验数据： 所述实验数据包括液体密度ρl、气体密度ρg、液体粘度μl、表面张力σ、喷嘴A的射流直径a以及在液体速度Ul和气体速度Ug工况下的实验雾化粒径SMD； S2，计算不稳定波数区间，包括以下步骤： S21，确定不稳定波数和复数频率的关系，如下式所示： 其中，i为虚数单位；S＝ωρla3σ12为无量纲的复数频率，ω为复数频率；m＝ka为无量纲的不稳定波数；I0x和I1x分别为0阶和1阶的第一类修正贝塞尔函数；K0x和K1x分别为0阶和1阶的第二类修正贝塞尔函数；ρ＝ρgρl；为液体韦伯数；Oh＝μlρlaρ12为奥内佐格数； S22，使用S21中的不稳定波数和复数频率的关系，把ω＝0时的不稳定波数k的结果作为不稳定波数上限值kmax； S23，计算不稳定波数下限值kmin＝πa； S24，得到不稳定波数区间kmin，kmax； S3，不稳定波数区间离散化：使用相同的离散区间宽度Δk对S24中所述不稳定波数区间kmin，kmax进行离散化，得到不稳定波数离散区间数据集[k1，k2、k2，k3…kp，kq]，其中p、q为不稳定波数离散区间边界值的编号； 通过步骤S21中的不稳定波数和复数频率的关系求出所述不稳定波数离散区间数据集中每个不稳定波数离散区间内一点Kj对应的离散的复数频率ωj，取所述离散的复数频率ωj中的实数部分作为离散的不稳定增长率j为离散的复数频率的编号，j∈[1，n]，n为所述不稳定波数离散区间的总个数； S4，计算真实喷嘴系数C，包括以下步骤： S41，计算初始雾化粒径， 将S1得到的实验数据、S2得到的不稳定波数区间和S3得到的离散的不稳定增长率代入到下式，并使初始喷嘴系数C′＝1，得到初始雾化粒径SMD′； S42，计算喷嘴A的真实喷嘴系数C， C＝SMDSMD′； S5，预测气液同轴式喷嘴平均雾化粒径： 对使用喷嘴A喷出待测物质的液滴的平均雾化粒径进行预测，获取所述待测物质的液体密度、气体密度、液体粘度、表面张力，确定所述待测物质的液体速度和气体速度，通过步骤S2和步骤S3计算待测离散的不稳定增长率数据集和待测不稳定波数离散区间对应点数据集，通过下式计算雾化粒径SMD的预测值D；

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