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龙图腾网获悉深圳市启建时代科技有限公司申请的专利一种电子元器件质量检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119688004B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411900583.3，技术领域涉及：G01D21/02；该发明授权一种电子元器件质量检测方法是由周克;杨兴国;苏婧;徐晓东;王体梅设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子元器件质量检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电子元器件质量检测方法，涉及电子元器件质量检测技术领域，利用初步检测单元，对电子元器件进行初步的检测采集，依次计算输出电子元器件的亮度均匀性综合指标LJ和缺陷检测指数QX，并利用修复模块对电子元器件进行缺陷修复，利用二次检测单元，对电子元器件进行修复后的检测采集，计算输出电子元器件修复后的修复后亮度均匀性综合指标LJnew和修复后平均亮度值LDavgnew，利用综合评估电子元器件质量单元，计算输出综合质量评估DZX，并评估检测修复措施的结果，本发明通过提高亮度均匀性检测的准确性、优化缺陷检测效果、完善综合质量评估体系，实现对电子元器件质量的全面、准确评估，为后续的质量改进工作提供有力支持。

本发明授权一种电子元器件质量检测方法在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件质量检测方法，其特征在于，包括有数据检测采集模块、数据评估分析模块、修复模块，其中，所述数据检测采集模块包括有初步检测单元和二次检测单元，所述数据评估分析模块包括有量化评估电子元器件亮度均匀性单元，量化评估电子元器件上缺陷严重程度单元以及综合评估电子元器件质量单元； 具体实现步骤如下： 步骤I、利用初步检测单元，对电子元器件进行初步的检测采集； 步骤II、利用量化评估电子元器件亮度均匀性单元和量化评估电子元器件上缺陷严重程度单元，依次计算输出电子元器件的亮度均匀性综合指标LJ和缺陷检测指数QX； 步骤III、基于所述缺陷检测指数QX，并利用修复模块对电子元器件进行缺陷修复； 步骤IV、利用二次检测单元，对电子元器件进行修复后的检测采集； 步骤V、利用量化评估电子元器件亮度均匀性单元，计算输出电子元器件修复后的修复后亮度均匀性综合指标LJnew和修复后平均亮度值LDavgnew； 步骤VI、利用综合评估电子元器件质量单元，计算输出综合质量评估DZX，并评估检测修复措施的结果； 所述量化评估电子元器件亮度均匀性单元的计算公式如下： 其中： LJ为亮度均匀性综合指标； LDi为第i检测点亮度值； n为检测点总数； LDmax为最大检测亮度值； LDmin为最小检测亮度值； LDavg为平均亮度值，LDavg反映按面积加权平均下的亮度值； LD-为检测点亮度平均值，LD-反映检测点总数n的亮度平均值； 所述平均亮度值LDavg的计算公式如下： Mi为第i个检测点面积，Mi反映第i检测点亮度值LDi所在面积值； 所述检测点亮度平均值LD-的计算公式如下： LD-＝LD1+LD2+LD3+......+LDn； LD1为第一检测点亮度值，LD2为第二检测点亮度值，LD3为第三检测点亮度值，LDn为第n检测点亮度值； 第i检测点亮度值LDi代表第一检测点亮度值LD1、第二检测点亮度值LD2、第三检测点亮度值LD3、第n检测点亮度值LDn中任意一检测点的亮度值； 所述量化评估电子元器件上缺陷严重程度单元的计算公式如下： 其中： QX为缺陷检测指数； QM为检测缺陷总面积； LDdefect为缺陷区域平均亮度值； LDsurrounding为缺陷周围区域的平均亮度值。

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