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龙图腾网获悉广州大学申请的专利一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119715535B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411637406.0，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法及系统是由黄文恺;赵文滔设计研发完成，并于2024-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法及系统在说明书摘要公布了：本申请提供了一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法及系统，根据本申请的方法包括：获取印刷电路板的彩色缺陷Normal图、紫外光缺陷UV图和生产资料标准CAM图并进行处理，利用处理后的Normal缺陷图和CAM图进行印刷电路板缺陷一次判定；联合一次判定结果和处理后的UV缺陷图进行印刷电路板缺陷二次判定，得到最终的印刷电路板缺陷判定结果。本申请利用模板匹配准确获取CAM标准图区域，通过计算和对比CAM标准图与UV缺陷图的像素值，有效解决了VRS中AI模型对无特征缺陷和稀有缺陷泛化能力低导致的漏识别问题，利用OTSU算法解决了在不同光照强度下二值化阈值通用性差的问题，并使用中值滤波去除冗余信息干扰，避免了图像噪点过多影响点位判定的问题。

本发明授权一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法，其特征在于包括： 获取印刷电路板的Normal缺陷图、UV缺陷图和CAM图并进行处理，利用处理后的Normal缺陷图和CAM图进行印刷电路板缺陷一次判定，具体包括： 通过VRS设备获取印刷电路板的Normal缺陷图和UV缺陷图，通过AOI设备获取印刷电路板的CAM图，对所述Normal缺陷图和UV缺陷图进行裁剪并转为灰度图，得到Normal灰度图和UV灰度图；将所述CAM图转为灰度图，得到CAM灰度图； 对所述Normal灰度图和所述CAM灰度图进行模板匹配并计算点位最大相似度，将所述点位最大相似度与预设的阈值范围进行比对，若所述点位最大相似度大于阈值范围上限，则判定对应点位为正常点位；若所述点位最大相似度小于阈值范围下限，则判定对应点位为缺陷点位；若所述点位最大相似度处于阈值范围内，则对所述CAM灰度图中相似度最大的区域进行截取，得到CAM二次判定图； 联合一次判定结果和处理后的UV缺陷图进行印刷电路板缺陷二次判定，得到最终的印刷电路板缺陷判定结果，具体包括： 采用OTSU算法计算所述UV缺陷图的二值化阈值，利用所述二值化阈值对所述UV灰度图进行二值化处理，并通过中值滤波法对二值化后的UV灰度图进行去噪处理，得到UV二值化去噪图；对所述CAM二次判定图进行二值化处理，得到CAM二值化图，对所述CAM二值化图进行循环形态学膨胀，并将循环膨胀中的CAM二值化图与所述UV二值化去噪图不断进行模板匹配，直至得到CAM二值化图相似度最大的区域图像作为CAM二值化膨胀图；通过所述UV二值化去噪图和所述CAM二值化膨胀图分别构建对应的像素矩阵，并分别对UV像素矩阵和CAM像素矩阵的每一行、每一列、每一主对角线以及每一副对角线求和，将UV像素矩阵的每一行像素和、每一列像素和、每一主对角线像素和以及每一副对角线像素和分别与CAM像素矩阵对应位置的像素和进行求差运算，得到若干个像素和差值，并判断所述若干个像素和差值是否满足判定条件，若是，则判定对应点位为缺陷点位；若否，则判定对应点位为正常点位。

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