武汉睿芯特种光纤有限责任公司李超获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉睿芯特种光纤有限责任公司申请的专利纤芯直径测试平台和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119958436B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510091843.5，技术领域涉及：G01B11/08；该发明授权纤芯直径测试平台和方法是由李超;刘锐;王道龙;王静;张军;卢浩;李念;姚志阳;闫大鹏设计研发完成，并于2025-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本纤芯直径测试平台和方法在说明书摘要公布了：本发明涉及光纤技术领域，提供一种纤芯直径测试平台和方法，平台包括光源、台阶结构的待测光纤和光斑探测器，以及高折涂层无源光纤。所述高折涂层无源光纤的出光端与所述待测光纤的进光端连接，所述高折涂层无源光纤的涂层折射率高于包层折射率，且纤芯折射率高于所述包层折射率；所述光源产生的光从所述高折涂层无源光纤的进光端进入，从所述待测光纤的出光端输出；所述光斑探测器，用于探测输出光斑，并基于所述输出光斑的光强分布确定所述待测光纤的纤芯直径或台阶直径。本发明提供的纤芯直径测试平台和方法，保证了纤芯与台阶部分的光强有很明显的对比，从而可以识别出纤芯与台阶边界，解决了传统测试平台无法测试纤芯直径的问题。
本发明授权纤芯直径测试平台和方法在权利要求书中公布了：1.一种纤芯直径测试平台，包括光源、台阶结构的待测光纤和光斑探测器，其特征在于，所述平台还包括： 高折涂层无源光纤，所述高折涂层无源光纤的出光端与所述待测光纤的进光端连接，所述高折涂层无源光纤的涂层折射率高于包层折射率，且纤芯折射率高于所述包层折射率；所述高折涂层无源光纤，为非台阶结构； 所述光源产生的光从所述高折涂层无源光纤的进光端进入，从所述待测光纤的出光端输出； 所述光斑探测器，用于探测输出光斑，并基于所述输出光斑的光强分布确定所述待测光纤的纤芯直径或台阶直径； 所述高折涂层无源光纤的纤芯直径与所述待测光纤的纤芯直径之间的差异在第一阈值范围内；或， 所述待测光纤为多级台阶结构，所述高折涂层无源光纤的纤芯直径与所述待测光纤中任一级台阶的台阶直径之间的差异在所述第一阈值范围内。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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