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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于散射测量的紧缩场静区平面波幅相特性测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119959940B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510060335.0，技术领域涉及：G01S13/89；该发明授权基于散射测量的紧缩场静区平面波幅相特性测试方法及系统是由张帅;黄汇阳;马晓龙;李悠扬;吕宇涵;樊柯;高卓越设计研发完成，并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于散射测量的紧缩场静区平面波幅相特性测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于散射测量的紧缩场静区平面波幅相特性测试方法，主要解决现有紧缩场静区平面波幅相特性测试难度大和难以消除环境杂波干扰的缺点。其实现方案为：对待测区域进行空间坐标标定确定采样点坐标，在该点处放置一个标准散射体，测量其单站散射数据；移动标准散射体位置到下一采样点处，重复该测量过程，直到获得所有采样点处标准散射体的散射数据；通过距离门滤波滤除获得数据中的环境杂波；测量紧缩场馈源天线的辐射方向图，构建目标散射场补偿矩阵，通过该矩阵对滤波后结果进行散射补偿；根据补偿结果计算紧缩场静区平面波幅相特性，利用该幅相特性确定紧缩场静区范围。本发明能较为简单的实现紧缩场静区幅相特性测量，可应用于紧缩场静区性能测试与分析。

本发明授权基于散射测量的紧缩场静区平面波幅相特性测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于散射测量的紧缩场静区平面波幅相特性测试方法，其特征在于：包括： 对紧缩场待测区域进行坐标划分，确定空间采样点； 测量标准散射体在所有空间采样点处的单站散射数据； 通过距离门法滤除单站散射数据中的杂波，得到目标散射场时域数据U'q,t； 通过紧缩场馈源天线方向图和采样点Pqxq,yq,zq处标准散射体的散射波被接收天线接收时的入射角构建目标散射场补偿矩阵Bq,n； 通过目标散射场补偿矩阵Bq,n补偿目标散射场，利用补偿后目标散射场计算静区平面波幅相特性，并利用该幅相特性确定紧缩场静区范围； 其中，θ为俯仰角，为方位角，t为时间维度，q＝1,2…,Q，Q为采样点总数，xq,yq,zq为第q个采样点空间坐标，θq为第q个采样点处标准散射体散射波被接收天线接收时的入射俯仰角，为第q个采样点处标准散射体散射波被接收天线接收时的入射方位角。

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