哈尔滨工业大学王伟波获国家专利权
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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利一种偏振调控高精度线光谱共焦测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119984045B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510098293.X，技术领域涉及：G01B11/02；该发明授权一种偏振调控高精度线光谱共焦测量装置是由王伟波;张志强;吴必伟;谭久彬设计研发完成，并于2025-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种偏振调控高精度线光谱共焦测量装置在说明书摘要公布了：一种偏振调控高精度光谱共焦测量装置，它涉及一种线光谱共焦测量装置。本发明为了解决现有技术无法有效抑制离焦光及串扰光，且测量能力较差的问题。本发明包括线形光、两个偏振阵列、分光棱镜、色散物镜和第一光谱解调模块；线形光、分光棱镜、色散物镜和第一光谱解调模块由上至下依次设置，物体表面设置在分光棱镜的一侧，一个偏振阵列设置在线形光与分光棱镜之间，另一个偏振阵列设置在分光棱镜与物体表面之间。本发明属于超精密测量技术领域。
本发明授权一种偏振调控高精度线光谱共焦测量装置在权利要求书中公布了：1.一种偏振调控高精度线光谱共焦测量装置，其特征在于，包括线形光1、两个偏振阵列2、分光棱镜3、色散物镜4和第一光谱解调模块5； 线形光1、分光棱镜3、色散物镜4和物体表面6由上至下依次设置，物体表面6设置在分光棱镜3的一侧，一个偏振阵列2设置在线形光1与分光棱镜3之间，另一个偏振阵列2设置在分光棱镜3与第一光谱解调模块5之间； 所述偏振阵列2用于线形光1进行偏振调制及对反射光进行选择性通过，所述偏振阵列2是线偏振的，且偏振阵列2相邻单元的偏振方向相互垂直。
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