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无锡邑文微电子科技股份有限公司;江苏邑文微电子科技有限公司陆艺升获国家专利权

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龙图腾网获悉无锡邑文微电子科技股份有限公司;江苏邑文微电子科技有限公司申请的专利半导体数据压缩存储方法、装置、设备、介质及程序产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120085809B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510489748.0,技术领域涉及:G06F3/06;该发明授权半导体数据压缩存储方法、装置、设备、介质及程序产品是由陆艺升;张心强;孙文彬;刘丹设计研发完成,并于2025-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。

半导体数据压缩存储方法、装置、设备、介质及程序产品在说明书摘要公布了:本发明公开了一种半导体数据压缩存储方法、装置、设备、介质及程序产品,涉及数据处理技术领域。该方法包括:检测半导体数据,确定半导体数据的数据类型;针对设置数据,在设置数据对应的设备开启时进行存储;针对实测数据,在数据采集时刻为首次数据采集时刻或末次数据采集时刻时,对实测数据和对应的数据采集时刻进行存储;在数据采集时刻不是首次数据采集时刻或末次数据采集时刻时,检测实测数据的数据跳变情况,在实测数据存在跳变时,存储存在跳变的实测数据和对应的数据采集时刻。本发明实施例的技术方案实现了对半导体数据的压缩存储,在满足半导体数据存储需求的同时,降低了半导体数据所占用的存储空间。

本发明授权半导体数据压缩存储方法、装置、设备、介质及程序产品在权利要求书中公布了:1.一种半导体数据压缩存储方法,其特征在于,所述方法包括: 周期性获取半导体数据; 对所述半导体数据进行检测,确定所述半导体数据的数据类型;其中,所述数据类型包括设置数据和实测数据; 针对所述设置数据,在所述设置数据对应的设备开启时,对所述设置数据进行存储; 针对所述实测数据,获取数据采集时刻,并检测所述数据采集时刻是否为当前芯片制作过程中的首次数据采集时刻或末次数据采集时刻,在所述数据采集时刻为所述当前芯片制作过程中的首次数据采集时刻或末次数据采集时刻时,对所述实测数据和对应的所述数据采集时刻直接进行存储; 针对所述实测数据,在所述数据采集时刻不是所述当前芯片制作过程中的首次数据采集时刻或末次数据采集时刻时,对所述实测数据的数据跳变情况进行检测,在所述实测数据存在跳变时,对存在跳变的所述实测数据和对应的所述数据采集时刻进行存储; 其中,所述对所述实测数据的数据跳变情况进行检测,在所述实测数据存在跳变时,对存在跳变的所述实测数据和对应的所述数据采集时刻进行存储,包括: 对所述实测数据进行检测,确定所述实测数据的实测数据类型;其中,所述实测数据类型包括唯一型数据和波动型数据; 针对所述唯一型数据,对所述唯一型数据的数据跳变情况进行检测,在所述唯一型数据存在跳变时,对存在跳变的所述唯一型数据和对应的所述数据采集时刻进行存储; 针对所述波动型数据,对所述波动型数据的数据跳变情况进行检测,在所述波动型数据存在跳变时,对所述波动型数据与预设波动型数据范围进行比较,在所述波动型数据超过预设波动型数据范围时,对所述波动型数据和对应的所述数据采集时刻进行存储。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人无锡邑文微电子科技股份有限公司;江苏邑文微电子科技有限公司,其通讯地址为:214000 江苏省无锡市新吴区观山路1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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