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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种基于旋转磁场探测太赫兹信号的磁各向异性定量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120275876B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510440228.0，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权一种基于旋转磁场探测太赫兹信号的磁各向异性定量方法及系统是由刘昌勤;王垲锴;袁晓娟;陈家浩;戴佳钰设计研发完成，并于2025-04-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于旋转磁场探测太赫兹信号的磁各向异性定量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于旋转磁场探测太赫兹信号的磁各向异性定量方法及系统，方法包括：1获取待测磁性非磁材料膜，所述待测磁性非磁材料膜包括至少一层具有强自旋‑电荷流转化的非磁性薄膜层和至少一层磁性薄膜层；2向待测磁性非磁材料膜发射飞秒激光泵浦脉冲，辐射太赫兹波；3向待测磁性非磁材料膜施加磁场；4将飞秒激光探测脉冲与飞秒激光泵浦脉冲的相对时间延迟设置到太赫兹波的信号位置，并连续旋转施加磁场的角度，通过飞秒激光探测脉冲探测不同磁场角度下的太赫兹波信号；5根据不同磁场角度下的太赫兹波信号，计算得到磁性薄膜层的磁各向异性场。本发明无需接触样品测量、无需对检测材料进行微纳加工，制备及测试工艺简单，可以实现无损检测。

本发明授权一种基于旋转磁场探测太赫兹信号的磁各向异性定量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于旋转磁场探测太赫兹信号的磁各向异性定量方法，其特征在于，包括如下步骤： 1获取待测磁性非磁材料膜，所述待测磁性非磁材料膜包括至少一层具有强自旋-电荷流转化的非磁性薄膜层和至少一层具有磁各向异性的磁性薄膜层； 2向待测磁性非磁材料膜发射飞秒激光泵浦脉冲，通过飞秒激光泵浦脉冲辐照磁性薄膜层产生自旋电流，并注入非磁性薄膜层，非磁性薄膜层将自旋电流转化为皮秒时间尺度的瞬态电荷流，从而辐射太赫兹波； 3向待测磁性非磁材料膜施加磁场,磁场平面垂直于飞秒激光泵浦脉冲入射方向； 4将飞秒激光探测脉冲与飞秒激光泵浦脉冲的相对时间延迟设置到太赫兹波的信号位置，并连续旋转施加磁场的角度，通过飞秒激光探测脉冲探测不同磁场角度下的太赫兹波信号； 5根据不同磁场角度下的太赫兹波信号，计算得到磁性薄膜层的磁各向异性场； 步骤5具体包括： 5.1获取飞秒激光探测脉冲探测到的在不同磁场角度下，太赫兹波信号的水平分量和竖直分量； 5.2将不同磁场角度下的水平分量和竖直分量进行矢量叠加，得到不同磁场角度下的太赫兹波信号的矢量形式； 5.3获取在不同磁场角度下太赫兹波的偏振角度，根据其电场偏振角度与磁化角度始终垂直的关系，得到不同磁场角度下的磁性薄膜层的磁化角度： ， 式中，表示磁性薄膜层磁化角度； 5.4如果磁性薄膜层具有单轴磁晶各向异性，则代入下式得到磁性薄膜层的单轴各向异性场： ， 式中，表示磁性薄膜层的单轴磁各向异性场大小，表示外加磁场，表示磁场角度； 如果磁性薄膜层具有四度磁晶各向异性，则代入下式得到磁性薄膜层的四度各向异性场： ， 式中，表示磁性薄膜层的四度磁各向异性场大小。

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