深圳精智达技术股份有限公司李玉泉获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种自适应物距的标定方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120525954B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511013550.1，技术领域涉及：G06T7/70；该发明授权一种自适应物距的标定方法、装置及存储介质是由李玉泉;杨硕;张滨设计研发完成，并于2025-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种自适应物距的标定方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种自适应物距的标定方法、装置及存储介质，用于实现在不同物距下的自适应调整标定，无需重复标定。本申请方法包括：在预设物距下，通过主检相机获取产品的第一缺陷坐标；在限定数据集中确定与预设物距最近的第一基准平面，并获取第一基准平面对应的转换关系，限定数据集包括多个基准平面的物距信息和基准平面对应的转换关系；根据主检相机的参数、预设物距、第一基准平面的物距和第一缺陷坐标，计算得到第二缺陷坐标，第二缺陷坐标为第一基准平面中缺陷的图像坐标，图像主点坐标为相机图像中心点的坐标；根据第一基准平面的转换关系和第二缺陷坐标，计算得到第三缺陷坐标，第三缺陷坐标为精检相机图像中心对齐缺陷时的载台坐标。
本发明授权一种自适应物距的标定方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种自适应物距的标定方法，其特征在于，包括： 在预设物距下，通过主检相机获取产品的第一缺陷坐标； 在限定数据集中确定与所述预设物距最近的第一基准平面，并获取所述第一基准平面对应的转换关系，所述限定数据集包括多个基准平面的物距信息和所述基准平面对应的转换关系； 根据所述主检相机的参数、所述预设物距、所述第一基准平面的物距和所述第一缺陷坐标，计算得到第二缺陷坐标，所述第二缺陷坐标为所述第一基准平面中缺陷的图像坐标，所述主检相机的参数包括图像主点坐标和相机焦距，所述图像主点坐标为相机图像中心点的坐标； 根据所述第一基准平面的转换关系和所述第二缺陷坐标，计算得到第三缺陷坐标，所述第三缺陷坐标为精检相机图像中心对齐缺陷时的载台坐标。
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