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龙图腾网获悉北京诺君安信息技术股份有限公司申请的专利一种基于验证结果的电子护照验证管理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120561911B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511056688.X，技术领域涉及：G06F21/44；该发明授权一种基于验证结果的电子护照验证管理方法是由韩小西设计研发完成，并于2025-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于验证结果的电子护照验证管理方法在说明书摘要公布了：本发明涉及管理技术领域，是一种基于验证结果的电子护照验证管理方法，包括：实时采集电子护照验证过程中的电子护照验证结果日志，导入动态硬件损耗模型，输出实时硬件损耗值；获取普通验证阶段芯片的电气特性参数，构建基于验证操作复杂度的动态电荷泄漏系数；计算基于验证场景强度的电子护照芯片的劣化加速因子；结合电压‑温度耦合效应生成电子护照芯片的综合健康指数，并识别护照芯片临界失效状态，输出调整后的电子护照保护管理策略。本发明解决了现有技术中，大部分电子护照在未达理论寿命周期时即会突发性失效或批量报废的问题。

本发明授权一种基于验证结果的电子护照验证管理方法在权利要求书中公布了：1.一种基于验证结果的电子护照验证管理方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤一：实时采集电子护照验证过程中的电子护照验证结果日志，导入动态硬件损耗模型，输出实时硬件损耗值； 步骤二：获取普通验证阶段芯片的电气特性参数，构建基于验证操作复杂度的动态电荷泄漏系数； 步骤三：获取高峰验证阶段的芯片错误率频谱数据，计算基于验证场景强度的电子护照芯片的劣化加速因子； 步骤四：融合步骤一、步骤二和步骤三的输出参数，结合电压-温度耦合效应生成电子护照芯片的综合健康指数，并识别护照芯片临界失效状态； S41：提取步骤S12输出的电子护照的实时硬件损耗值以及步骤S25输出的更新后的动态电荷泄漏系数，同步提取步骤S33输出的电子护照芯片的劣化加速因子； S42：采用Min-Max归一化对步骤S41中提取到的数据进行标准化处理； S43：将步骤S42输出的标准化数据导入电子护照芯片健康状态综合评估策略，生成电子护照芯片的综合健康指数，具体为： ； 其中，为第n次验证过程中的电子护照芯片的综合健康指数；为第n-1次验证过程中的电子护照芯片的综合健康指数； n表示电子护照当前验证过程在电子护照验证结果日志中的标号索引； 为第n次电子护照验证过程中的护照健康波动系数； 所述护照健康波动系数的获取策略，具体如下： ； 其中，分别为第n次和第n-1次验证的实时硬件损耗值；分别为第n次和第n-1次验证的更新后动态电荷泄漏系数；分别为第n次和第n-1次验证的劣化加速因子；分别为权重系数，满足； 步骤五：根据芯片临界失效状态识别结果及当前验证场景特征动态调整验证策略，输出调整后的电子护照保护管理策略。

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