买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉广东开放大学(广东理工职业学院)申请的专利一种密度检测模块的测试系统及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120668522B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511178390.6，技术领域涉及：G01N9/24；该发明授权一种密度检测模块的测试系统及测试方法是由陈小波;郑梅鑫;黄嘉俊设计研发完成，并于2025-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种密度检测模块的测试系统及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种密度检测模块的测试系统及测试方法，其系统包括：扫描采集端，用于对货物进行射线扫描，同时，基于传感器阵列采集射线的衰减信号；分析端，用于对射线的衰减信号进行分析，构建货物的第一密度分布模型；密度重建端，用于对第一密度分布模型进行密度重建，获得第二密度分布模型；密度数据获取端，用于将第二密度分布模型转换为二维灰度图像，并基于二维灰度图像得到货物不同区域的密度数据。有效保障了对货物密度检测的准确性与有效性，同时，二维灰度图像可以方便地进行存储和记录，为货物的检测历史提供了可视化的记录；在需要追溯货物检测情况时，可以直接查看图像和相关的密度数据。

本发明授权一种密度检测模块的测试系统及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种密度检测模块的测试系统，其特征在于，包括： 扫描采集端，用于对货物进行射线扫描，同时，基于传感器阵列采集射线的衰减信号； 分析端，用于对射线的衰减信号进行分析，构建货物的第一密度分布模型； 密度重建端，用于对第一密度分布模型进行密度重建，获得第二密度分布模型； 密度数据获取端，用于将第二密度分布模型转换为二维灰度图像，并基于二维灰度图像得到货物不同区域的密度数据； 分析端，包括： 信号强度确定单元，用于获取传感器阵列采集到的射线的衰减信号对应的数字信号，并基于数字信号确定射线的衰减信号在每一测量点下的信号强度；同时，对射线发射终端进行访问，并基于访问结果确定射线的初始发射强度； 信号分析单元，用于获取货物在不同测量点的厚度，并基于货物在不同测量点的厚度、每一测量点下的信号强度以及每一测量点下射线的初始发射强度确定射线在不同测量点上的衰减系数； 第一密度分布模型构建单元，用于基于不同测量点上的衰减系数确定每一测量点下的射线衰减率，并基于射线衰减率得到每一测量点对应的密度数据；基于每一测量点在货物上的原始位置信息对不同测量点的密度数据进行关联，并基于关联结果得到货物的第一密度分布模型； 密度重建端，包括： 三维扫描结构图确定单元，用于确定每一角度下射线对货物的扫描范围，并获取不同角度下射线对货物扫描范围的重叠区域；根据重叠区域确定各扫描范围的衔接线，同时，根据衔接线进行角度合并，得到货物的三维扫描结构图； 缺失测量点确定单元，用于对每一角度下的密度数据进行识别，确定每一角度下的扫描平面中各行测量点的位置分布特征；根据位置分布特征确定在扫描平面中的缺失测量点； 待插值密度数据确定单元，用于以缺失测量点为中心，预设数量的测量点为半径锁定局部区域范围，对局部区域范围内的所有测量点的密度数据进行均值计算，获得密度均值，并将密度均值作为第一参考指标；获取缺失测量点的相邻测量点，并读取相邻测量点射线的折射率，同时，根据相邻测量点射线的折射率对缺失测量点所在货物位置的厚度进行评估，并将评估的厚度作为第二参考指标；根据第二参考指标评估缺失测量点的密度值；基于第二参考指标确定的缺失测量点的密度值对第一参考指标进行修正，获得缺失测量点对应的待插值密度数据； 第二密度分布模型确定单元，用于将待插值密度数据在缺失测量点中进行插值补充，获得每个扫描角度对应扫描平面的完整的密度数据集合；根据扫描角度将对应密度数据集合在三维扫描结构图中进行关联映射，并根据关联映射结果生成第二密度分布模型。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人广东开放大学(广东理工职业学院)，其通讯地址为：510000 广东省广州市越秀区下塘西路1号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。