买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉南京航空航天大学申请的专利基于小样本数据融合的相控阵天线结构高精度重构与电性能分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120706197B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511195717.0，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权基于小样本数据融合的相控阵天线结构高精度重构与电性能分析方法是由王长瑞;王栗;刘清昊;李正昊;戴宇峰;唐宝富;戴苏亚;姚金辉设计研发完成，并于2025-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于小样本数据融合的相控阵天线结构高精度重构与电性能分析方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于小样本数据融合的相控阵天线结构高精度重构与电性能分析方法，涉及结构变形重构与分析领域。该方法首先依据相控阵天线阵面结构的理论几何模型构建有限元模型，通过设置不同约束条件与载荷获取低保真应变‑变形数据；同时在实际阵面结构上布置应变传感器，获取高保真应变‑变形数据。对两类数据进行分解与重组后，利用多通道深度卷积生成对抗神经网络拟合映射关系，训练生成器与判别器模型，实现阵面结构变形的精准重构。基于重构结果，计算阵元位置偏移量、相位差及方向图函数，将阵面变形视作随机场变量，分析电性能。本方法解决了传统方法建模复杂、适用性差的问题，为阵面结构变形主动控制提供感知基础。

本发明授权基于小样本数据融合的相控阵天线结构高精度重构与电性能分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于小样本数据融合的相控阵天线结构高精度重构与电性能分析方法，其特征在于，包括如下步骤： S1、根据相控阵天线阵面结构的理论几何模型，构建其对应的有限元模型； S2、设置所述有限元模型的不同约束条件与载荷，模拟相控阵天线阵面结构的不同服役情况，获取相控阵天线阵面结构的低保真应变-变形数据； S3、在实际的相控阵天线阵面结构上布置应变传感器，建立该相控阵天线阵面结构的坐标系，对该相控阵天线阵面结构加载不同载荷，获取该相控阵天线阵面结构的高保真应变-变形数据； S4、将低保真应变-变形数据和高保真应变-变形数据根据坐标系中空间位置的正交关系进行分解，得到XY分量下的应变数据集； S5、将XY分量下的应变数据集根据空间位置通过预定的映射关系重组为XY分量下的低保真应变图像、以及高保真应变图像、； S6、将低保真应变-变形数据和高保真应变-变形数据中的位移数据根据坐标系分解为XYZ方向的低保真位移分量数据集、、以及高保真位移分量数据集、、； S7、基于多通道深度卷积生成对抗神经网络，分别拟合低保真应变图像、与低保真位移分量数据集、、之间的映射关系，得到生成器模型、、； S8、将高保真应变图像、输入所述生成器模型、、，不断生成对抗，得到相控阵天线阵面结构的重构结果； S9、基于相控阵天线阵面结构的重构结果，分析相控阵天线的电性能，包括根据阵面结构的变形计算阵元位置偏移量，推导阵元间的相位差，进而得到相控阵天线的方向图函数，并分析方向图函数的特性；具体包括： 设空间中任意一点位置，点相对于坐标系用方向余弦表示为，点与坐标轴之间的夹角的表示关系为： ； 设第阵元位置偏移量为，导致第阵元相对于第单元的空间相位差为： ； 式中，和分别为沿x轴和y轴方向的阵元间距； 设天线的阵面变形只对阵列单元的电场相位产生影响，不改变其幅值，最后可以得到相控阵天线中第个单元相对于第单元的方向图函数为： ； 式中，为第个天线阵元的阵中方向图；为单元激励电流，第单元的阵内相位差为；j为虚数；为自由空间的传播常数，位置形变分别为、、； 将阵面变形视作随机场变量，将阵面变形视作为随机变量，对其中第个天线单元，阵面的变形表示为，均值与方差分别为和； 根据阵列单元变形的随机误差推导单元相位差的均值方差，推算得到整体阵列天线的方向图函数在各个观测点的均值方差，其中；得到第阵元相对于第单元的空间相位差为： ； 令； 则相控阵天线的方向图函数表示为： ； 方向图函数的数值随着单位位置变化而改变，通过分析单元形变量的均值和方差计算单元位置方向图函数的均值与方差。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南京航空航天大学，其通讯地址为：210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。