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龙图腾网获悉中国科学院福建物质结构研究所申请的专利一种X射线衍射多重散射校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115963131B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211708146.2，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权一种X射线衍射多重散射校正方法是由姜小明;郭国聪设计研发完成，并于2022-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种X射线衍射多重散射校正方法在说明书摘要公布了：本发明属于材料分析领域，一种X射线衍射多重散射校正方法,包括：步骤一、根据晶体的对称特性，获取等效衍射点，等效衍射点为衍射强度Ih，k，l的点的集合；步骤二、是否满足异常点的判断依据；如果满足，删除；否则，保留；步骤三、是否满足删除率，如满足，删除；否则，保留；步骤四、剩余的没有异常点的数据集I校正h，k，l用于进行后续的精修，校正后的I校正h，k，l更利于电子结构精修的准确。

本发明授权一种X射线衍射多重散射校正方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线衍射多重散射校正方法，其特征在于：包括：步骤一、根据晶体的对称性，可产生许多套等效衍射点，等效衍射点应有几乎相同的衍射强度Ih，k，l，点群为2m的晶体拥有等效衍射点集[h，k，l；-h,-k,-l；-h,k,-l； h,-k,l]，将属于同一套等效衍射点的强度从低到高排序，得到I，Iih，k，l序列，其中i＝1，2，3，…，n，n同一套等效衍射点中等效点的个数；步骤二、根据异常点判断依据删除一些强度异常的衍射点获得一套没有异常点的I校正h，k，l，异常点判断依据：突变斜率不得超过正常斜率的5倍；异常点数不得超过总等效点数的15；异常点的信噪比要大于3；根据相邻两点的差计算斜率Si＝Ii-Ii-1，并且依次比较S1，S2，S3，…，Sn-1，在低强度部分如果S15S2则应删除I1，在高强度部分如果Sn-15Sn-2则应删除In，如果S25S3则应删除I1和I2，如果Sn-25Sn-3则应删除In和In-1，在进行删除操作前，也要判断应删除点的信噪比是否大于3，如果没有，则不进行删除操作，否则，则执行删除操作，同时计算应删除的点数是否大于n5，如果不大于n5，则进行删除操作，否则不进行删除，最后使用没有异常点的数据集I校正h，k，l进行精修。

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