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龙图腾网获悉华中科技大学申请的专利一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116223451B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310333341.X，技术领域涉及：G01N21/49；该发明授权一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置是由许剑锋;白龙;谭伟;孙浩;阮奕潇设计研发完成，并于2023-03-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置在说明书摘要公布了：本发明属于光学精密测量技术领域，并公开了一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置，方法包括：发射激光光束，将激光光束偏振整形为平顶光束后分为多路平行光束，并经由相控阵准直入射到待测样品上；使相控阵相邻阵元之间产生特定相位差，进而使平行光束在特定方向发生干涉增强，使光束偏转特定角度并射入待测样品进行扫描，并在亚表层损伤处多次散射以形成散射光束；利用硅光电倍增管采集散射光束的光强数据；重复进行多次扫描，直至将待测样品表面全部扫描，并将采集到的多组光强数据与正常样品的光强数据进行分析对比，以确定待测样品的亚表层损伤的位置与形貌。本发明能实现快速高精度的亚表层损伤检测，具有广泛的应用前景。

本发明授权一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种基于光学相控阵的亚表层损伤的检测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、发射激光光束，将激光光束偏振并整形为平顶光束后分为多路平行光束，并使所述平行光束经由相控阵准直入射到待测样品上； S2、调节所述相控阵的阵元相位，使相邻阵元产生特定相位差，进而使所述平行光束基于所述特定相位差在所述相控阵中沿特定方向发生干涉增强形成偏转光束，所述偏转光束偏转特定角度射入待测样品进行扫描，并在亚表层损伤处多次散射形成偏振状态改变的散射光束； S3、利用多个硅光电倍增管采集所述散射光束的光强数据，每个所述硅光电倍增管的数据采集端均朝向所述待测样品的待测表面；所述硅光电倍增管均以所述待测样品为球心排布在所述待测样品上方的半球形轮廓面上，所述半球形轮廓面的半径相同或不同；相邻所述硅光电倍增管之间的间距相等或不相等； S4、重复步骤S2-S3进行多次扫描，直至将所述待测样品表面全部扫描，将采集到的多组所述光强数据与正常样品的光强数据进行分析对比，以确定所述待测样品的亚表层损伤的位置与形貌。

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