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京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司曾建风获国家专利权

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龙图腾网获悉京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司申请的专利数据处理方法、系统和计算机可读存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116261779B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202180002841.4,技术领域涉及:H01L21/66;该发明授权数据处理方法、系统和计算机可读存储介质是由曾建风;豆联栋;唐子涵设计研发完成,并于2021-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

数据处理方法、系统和计算机可读存储介质在说明书摘要公布了:一种数据处理方法、系统和计算机可读存储介质。该方法包括:获取目标数据;所述目标数据包括多个分析单元的数据21;获取每个所述分析单元中包含不良点的多张待检测基板的检测数据22;叠加所述多张待检测基板中的不良点获得不良点数据集23;对不良点数据集进行聚类计算得到第一不良点簇集24;根据所述第一不良点簇集生成所述不良点簇集对应的设备接触点位置的报警信息25。该方法对每个分析单元的待检测基板进行分析,缩短生产过程与分析重复不良过程之间的时间间隔,有利于提高数据处理效率;并且,该方法可以发现相同位置重复出现不良的不良点即获得第一不良点簇集,达到及时检测出生产设备引起重复不良的生产设备的效果,有利于提升待检测基板生产的良率。

本发明授权数据处理方法、系统和计算机可读存储介质在权利要求书中公布了:1.一种数据处理方法,其特征在于,包括: 获取目标数据;所述目标数据包括多个分析单元的数据; 获取每个所述分析单元中包含不良点的多张待检测基板的检测数据; 叠加所述多张待检测基板中的不良点获得不良点数据集; 对不良点数据集进行聚类计算得到第一不良点簇集; 根据所述第一不良点簇集生成所述不良点簇集对应的设备接触点位置的报警信息; 根据所述设备接触点位置控制生产设备,以使所述生产设备执行保护动作; 获取目标数据,包括: 从分布式存储装置读取源端数据中的生产数据,按照生产时间对经过每个生产设备的待检测基板进行排序,获得待检测基板的排序结果; 根据所述排序结果依次将预设数量张待检测基板划分至同一个单元,获得多个分析单元; 基于所述源端数据中的检测数据,获取每个分析单元中经过检测站点的待检测基板的数量; 获取每个分析单元中待检测基板的到达率,将所述到达率超过预设的到达率阈值的分析单元的数据作为转换后的目标数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司,其通讯地址为:100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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