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龙图腾网获悉北京精琢科技有限公司申请的专利硬盘寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117130854B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310970858.X，技术领域涉及：G06F11/30；该发明授权硬盘寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质是由孙琦;杨海超设计研发完成，并于2023-08-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本硬盘寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种硬盘寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法应用于客户端，包括：获取待预测硬盘的健康状态、当前加电时长和过热温度边界值；若待检测硬盘的健康状态为未损坏，则在开启硬盘寿命监测后，依照预设时间间隔检测待预测硬盘的当前温度；根据当前温度和过热温度边界值，得到检测结果；根据检测结果更新待预测硬盘的总过热温度累计时长；将总过热温度累计时长和当前加电时长发送到服务端，以使服务端根据总过热温度累计时长对待预测硬盘和数据库中已存的硬盘进行排序，以使服务端根据排序结果和排序结果中所有硬盘的当前加电时长预测待预测硬盘的寿命。预测过程中无需占用较多的硬件算力条件，提高了计算效率。

本发明授权硬盘寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种硬盘寿命预测方法，其特征在于，应用于客户端，包括： 获取待预测硬盘的健康状态、当前加电时长和过热温度边界值，其中所述健康状态包括已损坏和未损坏； 若待预测硬盘的健康状态为未损坏，则在开启硬盘寿命监测后，依照预设时间间隔检测所述待预测硬盘的当前温度； 比较所述当前温度和所述过热温度边界值，得到检测结果，其中所述检测结果包括过热和非过热； 根据所述检测结果更新所述待预测硬盘的总过热温度累计时长； 将所述总过热温度累计时长和所述当前加电时长发送到服务端，以使所述服务端根据所述总过热温度累计时长对所述待预测硬盘和数据库中已存的硬盘进行排序，得到排序结果，以使服务端根据所述排序结果和排序结果中所有硬盘的当前加电时长预测所述待预测硬盘的寿命，包括A1和A2： A1：将排序结果中待预测硬盘的总过热温度累计时长与比所述待预测硬盘的总过热温度累计时长长的相邻已损坏硬盘对应的总过热温度累计时长求差值得到过热状态下的硬盘寿命； 将排序结果中待预测硬盘的当前加电时长与比所述待预测硬盘的总过热温度累计时长短的相邻未损坏硬盘对应的当前加电时长求差值得到非过热状态下的硬盘寿命； A2：获取待预测硬盘的硬盘类型； 若所述待预测硬盘的硬盘类型为固态硬盘，则获取所述待预测硬盘的已使用的寿命百分比； 基于所述待预测硬盘的已使用的寿命百分比修正所述待预测硬盘的硬盘寿命。

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