南京苏试广博环境可靠性实验室有限公司黄硕获国家专利权
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龙图腾网获悉南京苏试广博环境可靠性实验室有限公司申请的专利一种三端LDO芯片老化测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223501118U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422641039.3，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种三端LDO芯片老化测试装置是由黄硕;吕程设计研发完成，并于2024-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种三端LDO芯片老化测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种三端LDO芯片老化测试装置，属于芯片测试技术领域。该三端LDO芯片老化测试装置包括：用于输出老化模拟信号的老化测试模块，老化测试模块包括依次串联的待测三端LDO芯片、电压跟随器及测试采样电阻，待测三端LDO芯片的输入端接入输入电压，待测三端LDO芯片的输出端与电压跟随器的正向输入端相连，电压跟随器的负向输入端与电压跟随器的输出端相连，电压跟随器的输出端与测试采样电阻的一端相连，测试采样电阻的另一端输出老化模拟信号。本实用新型的三端LDO芯片老化测试装置对不同参数的三端LDO芯片进行老化测试时，能够保证采集的输出电压稳定，实现老化测试条件的统一，保证老化测试结果的准确性。
本实用新型一种三端LDO芯片老化测试装置在权利要求书中公布了：1.一种三端LDO芯片老化测试装置，其特征在于，包括： 老化测试模块，用于输出老化模拟信号，所述老化测试模块包括依次串联的待测三端LDO芯片、电压跟随器及测试采样电阻，所述待测三端LDO芯片的输入端接入输入电压，所述待测三端LDO芯片的输出端与所述电压跟随器的正向输入端相连，所述电压跟随器的负向输入端与所述电压跟随器的输出端相连，所述电压跟随器的输出端与所述测试采样电阻的一端相连，所述测试采样电阻的另一端输出老化模拟信号。
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