唐云俊获国家专利权
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龙图腾网获悉唐云俊申请的专利一种XeF2刻蚀设备获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223501815U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-10-31发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202422401871.6,技术领域涉及:H01L21/67;该实用新型一种XeF2刻蚀设备是由唐云俊设计研发完成,并于2024-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种XeF2刻蚀设备在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种XeF2刻蚀设备,包括运输腔体、上载腔体、沉积自组装单分子层模块、等离子体刻蚀腔体和XeF2刻蚀工艺模块,所述运输腔体内部设有机械手,并且分别与上载腔体、沉积自组装单分子层模块、等离子体刻蚀腔体和XeF2刻蚀工艺模块连接,且运输腔体与上载腔体、沉积自组装单分子层模块、等离子体刻蚀腔体和XeF2刻蚀工艺模块之间均设置有第二真空阀门;该XeF2刻蚀设备能够可对工件晶圆进行真空上载和转运,并且晶圆进行表面等离子体预清洁、XeF2刻蚀、再次表面等离子体预清洁、SAM沉积以及下载,从而完成整个XeF2刻蚀和SAM沉积过程,并且XeF2刻蚀和SAM沉积均能够保证均匀性。
本实用新型一种XeF2刻蚀设备在权利要求书中公布了:1.一种XeF2刻蚀设备,其特征在于,包括: 上载腔体,其用于上载需要刻蚀的工件或晶圆,且与外界之间设置有第一真空阀门; 运输腔体,其内部设有机械手,并且分别与上载腔体、沉积自组装单分子层模块、等离子体刻蚀腔体和XeF2刻蚀工艺模块连接,且运输腔体与上载腔体、沉积自组装单分子层模块、等离子体刻蚀腔体和XeF2刻蚀工艺模块之间均设置有第二真空阀门; 沉积自组装单分子层模块,其包括沉积腔体,用于对工件或晶圆进行SAM沉积; 等离子体刻蚀腔体,其用于对工件或晶圆进行等离子体刻蚀; XeF2刻蚀工艺模块,其包括XeF2刻蚀腔体,用于对工件或晶圆进行XeF2刻蚀。
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