中国科学院微电子研究所郭燕萍获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利一种存储器的仿真验证方法和装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114356736B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-04发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111666794.1,技术领域涉及:G06F11/34;该发明授权一种存储器的仿真验证方法和装置是由郭燕萍;韩郑生;闫珍珍;许婷;卜建辉;刘海南;王成成;高立博;赵发展;罗家俊设计研发完成,并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种存储器的仿真验证方法和装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种存储器的仿真验证方法和装置,仿真验证方法包括:获取存储器关键路径的仿真存储点,其中,所述关键路径为所述存储器与存取端口之间的最远路径;验证所述存储器的读写功能是否正确;若是,则提取所述仿真存储点的时序参数进行仿真验证,其中,所述时序参数由所述仿真存储点验证读写功能的过程中生成。本发明通过验证仿真存储点的读写功能正确后,再提取仿真存储点的时序参数进行仿真验证,保证了读写功能验证正确和时序参数的准确性,可以在特征化参数仿真的同时验证读写功能,应用于存储编译器设计中,可以大大减少仿真验证的工作量,有效提高了存储编译器的设计效率。
本发明授权一种存储器的仿真验证方法和装置在权利要求书中公布了:1.一种存储器的仿真验证方法,其特征在于,包括: 获取存储器关键路径的仿真存储点,其中,所述关键路径为所述存储器与存取端口之间的最远路径; 验证所述存储器的读写功能是否正确; 若是,则提取所述仿真存储点的时序参数进行仿真验证,其中,所述时序参数由所述仿真存储点验证读写功能的过程中生成; 所述验证所述存储器的读写功能是否正确,包括: 初始化所述仿真存储点和所述存取端口,获得初始化结果; 根据初始化结果,验证所述仿真存储点的读写功能; 所述初始化所述仿真存储点和所述存取端口,包括: 获取验证向量,其中,所述验证向量包括0和1; 若所述验证向量为0,初始化所述存取端口输出为1,初始化所述仿真存储点的初始值为1; 若所述验证向量为1,初始化所述仿真存储点的初始值为0,初始化所述存取端口输出为0。
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